激光调制技术对结构光成像距离精度影响的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景与研究目的及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状及综述 | 第10-14页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第11-13页 |
| 1.2.3 国内外文献综述 | 第13-14页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第14-15页 |
| 第2章 结构光成像的探测原理 | 第15-27页 |
| 2.1 结构光探测系统 | 第15页 |
| 2.2 光栅条纹的形成 | 第15-17页 |
| 2.2.1 半导体激光器 | 第16页 |
| 2.2.2 声光调制器 | 第16页 |
| 2.2.3 鲍威尔棱镜 | 第16-17页 |
| 2.2.4 MEMS扫描镜 | 第17页 |
| 2.3 三维形貌探测的解算方案 | 第17-25页 |
| 2.3.1 三步解包裹算法原理 | 第18-19页 |
| 2.3.2 MEMS扫描角 | 第19页 |
| 2.3.3 基于二维平面靶标的标定模型 | 第19-25页 |
| 2.4 探测误差分析方法 | 第25-26页 |
| 2.5 本文的研究方案 | 第26-27页 |
| 第3章 系统探测误差的仿真研究 | 第27-43页 |
| 3.1 仿真研究的方案 | 第27-28页 |
| 3.2 光栅图像畸变的误差仿真 | 第28-35页 |
| 3.2.1 无相位解算误差的平面探测仿真 | 第28-29页 |
| 3.2.2 调制光强非正弦化的平面探测仿真 | 第29-33页 |
| 3.2.3 移相误差的平面探测仿真 | 第33-34页 |
| 3.2.4 鲍威尔棱镜产生的线光源光强分布不均 | 第34-35页 |
| 3.3 光栅图像的识别误差 | 第35-42页 |
| 3.3.1 CCD随机噪声对平面探测误差的仿真 | 第35-37页 |
| 3.3.2 激光器调制深度对平面探测误差的仿真 | 第37-39页 |
| 3.3.3 光栅条纹宽度对平面探测误差的仿真 | 第39-41页 |
| 3.3.4 调制激光光强对平面探测误差的仿真 | 第41-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 结构光成像实验 | 第43-61页 |
| 4.1 实验方案 | 第43页 |
| 4.2 光学系统的参数选择 | 第43-50页 |
| 4.2.1 鲍威尔棱镜棱角测量 | 第43-44页 |
| 4.2.2 MEMS扫描正弦化实验分析 | 第44-45页 |
| 4.2.3 相机及光平面参数测量 | 第45-48页 |
| 4.2.4 光栅条纹数量的测试 | 第48-50页 |
| 4.3 同步控制系统的设计 | 第50-51页 |
| 4.4 内调制探测系统的成像实验 | 第51-57页 |
| 4.4.1 平面的三维形貌还原实验 | 第51-56页 |
| 4.4.2 石膏像的三维形貌还原实验 | 第56-57页 |
| 4.5 基于外调制的探测实验 | 第57-60页 |
| 4.6 本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 致谢 | 第66页 |
