| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 引言 | 第10-17页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 无损检测技术发展 | 第11-12页 |
| 1.2.2 常用薄板缺陷检测技术与方法 | 第12-14页 |
| 1.2.3 超声检测中缺陷类型识别技术研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 主要研究内容及章节安排 | 第15-17页 |
| 1.3.1 本文主要研究内容 | 第15-16页 |
| 1.3.2 本文章节安排 | 第16-17页 |
| 第2章 薄板缺陷超声检测原理及方案 | 第17-32页 |
| 2.1 超声兰姆波介绍 | 第17-19页 |
| 2.2 超声兰姆波传播特性研究 | 第19-27页 |
| 2.2.1 超声兰姆波的传播波动方程 | 第19-21页 |
| 2.2.2 超声兰姆波的群速度与相速度 | 第21-22页 |
| 2.2.3 超声兰姆波的频散特性曲线 | 第22-27页 |
| 2.3 薄板缺陷超声检测方案 | 第27-31页 |
| 2.3.1 检测系统方案介绍 | 第27-28页 |
| 2.3.2 系统超声兰姆波激发 | 第28-29页 |
| 2.3.3 检测系统探头参数确定 | 第29-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 薄板缺陷硬件检测系统 | 第32-46页 |
| 3.1 薄板超声缺陷检测硬件系统总体介绍 | 第32-33页 |
| 3.2 薄板超声缺陷检测硬件收发模块 | 第33-39页 |
| 3.2.1 系统电源电路 | 第33-34页 |
| 3.2.2 超声波激发电路 | 第34-35页 |
| 3.2.3 回波接收电路 | 第35-39页 |
| 3.3 薄板超声缺陷检测硬件采集控制与传输模块 | 第39-44页 |
| 3.3.1 FPGA主控模块 | 第40-41页 |
| 3.3.2 数据采集模块 | 第41-42页 |
| 3.3.3 数据传输模块 | 第42-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-46页 |
| 第4章 基于NiosII的薄板缺陷检测片上系统 | 第46-61页 |
| 4.1 FPGA片上系统开发技术 | 第47-51页 |
| 4.1.1 Altera片上系统技术 | 第47-48页 |
| 4.1.2 IP核开发技术 | 第48-49页 |
| 4.1.3 NiosII处理器 | 第49-50页 |
| 4.1.4 基于FPGA的片上系统开发流程 | 第50-51页 |
| 4.2 薄板超声缺陷信号片上检测系统搭建与实现 | 第51-60页 |
| 4.2.1 薄板超声缺陷信号的检测原理 | 第51-52页 |
| 4.2.2 薄板超声缺陷信号片上检测系统配置 | 第52-56页 |
| 4.2.3 超声缺陷信号检测片上系统搭建 | 第56-60页 |
| 4.3 本章小结 | 第60-61页 |
| 第5章 基于EMD及主成分分析的缺陷信号特征提取与分类 | 第61-76页 |
| 5.1 基于EMD的缺陷信号分析 | 第61-66页 |
| 5.1.1 信号传统分析法 | 第61-63页 |
| 5.1.2 信号的EMD时频分析 | 第63-64页 |
| 5.1.3 薄板超声缺陷信号的EMD分解 | 第64-66页 |
| 5.2 主成分分析的原理及信号特征提取 | 第66-74页 |
| 5.2.1 主成分分析法 | 第66-67页 |
| 5.2.2 基于EMD及主成分分析法的特征提取模型建立 | 第67-68页 |
| 5.2.3 薄板超声缺陷信号的特征提取 | 第68-72页 |
| 5.2.4 薄板缺陷超声信号分类 | 第72-74页 |
| 5.3 实验结果分析 | 第74-75页 |
| 5.4 本章小结 | 第75-76页 |
| 第6章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 6.1 总结 | 第76页 |
| 6.2 展望 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 攻读硕士期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |