| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-15页 |
| 1.1 课题的来源及研究的目的和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 继电器退化机理国内外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3 继电器可靠性评估国内外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.4 基于性能退化的可靠性建模方法国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.5 国内外文献综述的简析 | 第13页 |
| 1.6 本文主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 航天继电器失效退化过程分析及建模 | 第15-26页 |
| 2.1 引言 | 第15页 |
| 2.2 继电器试品抽样及寿命试验 | 第15-18页 |
| 2.2.1 试验对象 | 第15-16页 |
| 2.2.2 抽样方案 | 第16-17页 |
| 2.2.3 试验条件 | 第17-18页 |
| 2.3 继电器累积损伤退化原理 | 第18-20页 |
| 2.4 退化过程最佳表征参数及失效阈值 | 第20-22页 |
| 2.4.1 最佳表征参数 | 第20页 |
| 2.4.2 失效阈值 | 第20-22页 |
| 2.5 继电器退化过程建模 | 第22-25页 |
| 2.5.1 Wiener过程定义 | 第22-23页 |
| 2.5.2 继电器退化失效的Wiener过程辨识 | 第23-25页 |
| 2.6 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 基于退化数据的航天继电器可靠性评估 | 第26-40页 |
| 3.1 引言 | 第26-27页 |
| 3.2 服从WIENER过程的产品寿命分布 | 第27-28页 |
| 3.3 基于退化数据的可靠性评估 | 第28-35页 |
| 3.3.1 基于退化数据的Wiener过程模型参数估计 | 第28-30页 |
| 3.3.2 可靠性评估过程 | 第30-33页 |
| 3.3.3 可靠度评估的截尾时间 | 第33-35页 |
| 3.4 可靠度区间估计 | 第35-38页 |
| 3.4.1 Bootstrap区间估计方法 | 第35-36页 |
| 3.4.2 可靠度的置信区间及置信下限计算 | 第36-38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-40页 |
| 第4章 退化与寿命数据综合建模方法与可靠性评估 | 第40-53页 |
| 4.1 引言 | 第40页 |
| 4.2 基于寿命数据的建模方法及可靠性评估 | 第40-43页 |
| 4.2.1 基于寿命数据的建模方法 | 第40-41页 |
| 4.2.2 基于寿命数据的可靠性评估 | 第41-43页 |
| 4.3 基于退化数据与寿命数据综合的建模方法 | 第43-44页 |
| 4.4 综合建模参数估计 | 第44-47页 |
| 4.4.1 参数估计方法 | 第44-45页 |
| 4.4.2 模型的参数估计 | 第45-47页 |
| 4.5 基于退化与寿命数据综合的可靠性评估 | 第47-50页 |
| 4.6 综合性能评价 | 第50-51页 |
| 4.7 本章小结 | 第51-53页 |
| 第5章 航天继电器可靠性寿命试验与分析系统 | 第53-67页 |
| 5.1 引言 | 第53-54页 |
| 5.2 下位机性能参数计算单元设计 | 第54-57页 |
| 5.2.1 性能参数定义 | 第54页 |
| 5.2.2 性能参数算法设计 | 第54-57页 |
| 5.3 上位机软件设计 | 第57-65页 |
| 5.3.1 试验条件设置及控制子程序 | 第58-60页 |
| 5.3.2 基于Wiener过程的可靠性评估子程序 | 第60-61页 |
| 5.3.3 一致性评价子程序 | 第61-65页 |
| 5.4 本章小结 | 第65-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
