SoC测试数据压缩方法研究--压缩编码技术和LFSR重播种技术
| 目录 | 第1-4页 |
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 引言 | 第6-8页 |
| 第1章 数字集成电路的可测试性设计 | 第8-24页 |
| ·改善集成电路测试可测性的解决方案 | 第8-17页 |
| ·Ad-hoc功能点测试技术 | 第8-10页 |
| ·基于扫描链的测试方法 | 第10页 |
| ·内建自测试方法BIST | 第10-13页 |
| ·外建自测试方法BOST | 第13-17页 |
| ·SoC的可测试设计方法 | 第17-22页 |
| ·SoC设计方法和IP复用技术的基本概念 | 第17页 |
| ·SoC测试的基本结构 | 第17-19页 |
| ·SoC核的测试方法 | 第19-21页 |
| ·SoC测试面临的问题 | 第21-22页 |
| ·SoC测试的功耗问题 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第2章 改进的翻转连续序列编码测试压缩 | 第24-43页 |
| ·测试压缩编码概述 | 第24-25页 |
| ·测试数据的分析 | 第24页 |
| ·测试数据压缩中的编码设计要求 | 第24-25页 |
| ·测试压缩编码的分类 | 第25-33页 |
| ·Huffman编码 | 第26-27页 |
| ·游程编码 | 第27-28页 |
| ·Golomb编码 | 第28页 |
| ·FDR编码 | 第28-30页 |
| ·FDR编码的讨论和EFDR编码 | 第30-32页 |
| ·翻转连续长度编码 | 第32-33页 |
| ·改进的翻转连续序列编码方案 | 第33-40页 |
| ·改进的翻转连续序列编码表 | 第33-34页 |
| ·改进的翻转连续序列编码的约束条件 | 第34-36页 |
| ·改进的翻转连续序列码的编码过程 | 第36-37页 |
| ·改进的翻转连续序列码的解码器设计 | 第37-40页 |
| ·实验结果 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第3章 分组位固定VL-LFSR重播种 | 第43-63页 |
| ·LFSR的基本原理 | 第43-45页 |
| ·LFSR重播种思想 | 第45-53页 |
| ·静态重播种 | 第46-48页 |
| ·静态重播种技术的约束和改进源泉的分析 | 第48-49页 |
| ·部分动态LFSR重新播种方法 | 第49-51页 |
| ·多多项式LFSR重新播种方法 | 第51-52页 |
| ·变长度种子重播种 | 第52-53页 |
| ·分组位固定VL-LFSR重播种 | 第53-61页 |
| ·位固定序列发生器结构和工作原理 | 第54-55页 |
| ·位固定VL-LFSR重播种结构 | 第55-56页 |
| ·Gauss-Jordan消元法求解种子的过程 | 第56-59页 |
| ·编码过程 | 第59-61页 |
| ·实验结果 | 第61-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第4章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
