| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 论文结构与主要内容 | 第12-14页 |
| 第二章 可测性设计与存储器理论 | 第14-25页 |
| 2.1 可测性设计 | 第14-22页 |
| 2.1.1 扫描技术(scan) | 第17-19页 |
| 2.1.2 边界扫描技术(boundary scan) | 第19-21页 |
| 2.1.3 存储器内建自测试技术 | 第21-22页 |
| 2.2 存储器理论 | 第22-24页 |
| 2.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 存储器故障模型及测试算法 | 第25-35页 |
| 3.1 存储器故障模型 | 第25-29页 |
| 3.2 常用存储器测试算法研究 | 第29-34页 |
| 3.2.1 Memory Scan算法 | 第30页 |
| 3.2.2 Checkboard算法 | 第30-31页 |
| 3.2.3 March算法 | 第31-32页 |
| 3.2.4 Gallop算法 | 第32-33页 |
| 3.2.5 算法的比较与分析 | 第33-34页 |
| 3.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 三单元耦合故障建模与新算法的设计 | 第35-54页 |
| 4.1 三单元耦合故障模型 | 第35-44页 |
| 4.2 算法地址生成设计 | 第44-48页 |
| 4.3 算法背景数据设计 | 第48-49页 |
| 4.4 算法敏化操作设计 | 第49-50页 |
| 4.5 算法SMarchCHK 3C设计 | 第50-52页 |
| 4.6 本章小结 | 第52-54页 |
| 第五章 算法的仿真实现与结果分析 | 第54-64页 |
| 5.1 存储器库文件建模 | 第54-56页 |
| 5.2 MBIST控制器电路设计 | 第56-58页 |
| 5.3 算法仿真实现 | 第58-63页 |
| 5.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 总结及展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 硕士期间发表学术成果 | 第71页 |