| 中文摘要 | 第4-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第8-19页 |
| 1.1 引言 | 第8-9页 |
| 1.2 常见过渡金属硫族化物的结构、性质 | 第9-11页 |
| 1.2.1 过渡金属硫族化物的晶体结构 | 第9页 |
| 1.2.2 过渡金属硫族化物的能带结构与光学性质 | 第9-11页 |
| 1.3 过渡金属硫族化物的制备方法简介 | 第11-15页 |
| 1.3.1 “自上而下”的制备方法 | 第11-14页 |
| 1.3.2 “自下而上”的制备方法 | 第14-15页 |
| 1.4 过渡金属硫族化物的应用 | 第15-18页 |
| 1.5 本论文的选题依据与主要研究内容 | 第18-19页 |
| 第二章 实验样品的制备以及表征 | 第19-33页 |
| 2.1 实验过程中用到的材料与设备 | 第19-20页 |
| 2.2 实验样品的制备过程 | 第20-21页 |
| 2.2.1 机械剥离法制备过渡金属硫族化物 | 第20页 |
| 2.2.2 CVD方法制备过渡金属硫族化物 | 第20-21页 |
| 2.3 制备样品的形貌与光学性质表征 | 第21-27页 |
| 2.4 CVD方法的生长参数对制备材料性质的影响 | 第27-33页 |
| 第三章 制备的二维少层样品的层数识别 | 第33-44页 |
| 3.1 少层样品层数的原子力显微镜表征 | 第33-35页 |
| 3.2 光学衬度和少层样品层数的对应关系 | 第35-37页 |
| 3.3 拉曼和少层样品层数的对应关系 | 第37-38页 |
| 3.4 发光和少层样品层数的对应关系 | 第38-44页 |
| 3.4.1 发光在少层样品层数识别中的应用 | 第38-41页 |
| 3.4.2 少层样品发光变化的能带解释 | 第41-44页 |
| 第四章 表面修饰的单层硫化钼样品的光学性质研究 | 第44-50页 |
| 4.1 氧化锌修饰的单层硫化钼样品的光学性质研究 | 第44-47页 |
| 4.2 碳量子点修饰的单层硫化钼样品的光学性质研究 | 第47-50页 |
| 第五章 结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 在学期间研究成果发表情况 | 第58页 |