| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 前言 | 第10-18页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 管道缺陷检测方法 | 第11-14页 |
| 1.2.1 常用的无损检测方法 | 第11-13页 |
| 1.2.2 管道缺陷漏磁检测 | 第13-14页 |
| 1.3 管道漏磁检测方法的现状及发展趋势 | 第14-16页 |
| 1.3.1 漏磁检测技术现状 | 第14-15页 |
| 1.3.2 管道漏磁检测技术发展趋势 | 第15-16页 |
| 1.4 论文的主要研究工作 | 第16-18页 |
| 第二章 管道漏磁检测基本方法及 ANSYS 分析 | 第18-31页 |
| 2.1 管道缺陷漏磁场产生的原因 | 第18-20页 |
| 2.2 管道缺陷漏磁检测的基本原理 | 第20页 |
| 2.3 缺陷漏磁场的偶极子模型 | 第20-23页 |
| 2.4 缺陷漏磁场的有限元模型 | 第23-24页 |
| 2.4.1 有限元法 | 第23页 |
| 2.4.2 漏磁场的有限元模型 | 第23-24页 |
| 2.5 缺陷漏磁场的 ANSYS 有限元分析 | 第24-30页 |
| 2.5.1 ANSYS 分析的基本步骤 | 第24-25页 |
| 2.5.2 矩形缺陷漏磁场的 ANSYS 建模分析 | 第25-30页 |
| 2.6 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 管道缺陷漏磁信号特征分析 | 第31-41页 |
| 3.1 漏磁信号特征分析 | 第31-33页 |
| 3.2 管道腐蚀缺陷几何参数对漏磁信号的影响 | 第33-36页 |
| 3.2.1 缺陷深度对漏磁信号各分量的影响 | 第33-35页 |
| 3.2.2 缺陷周向长度对漏磁信号各分量的影响 | 第35-36页 |
| 3.3 缺陷距磁极的距离对漏磁信号的影响 | 第36-37页 |
| 3.4 传感器距管壁提离值对漏磁信号的影响 | 第37-40页 |
| 3.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 管道漏磁检测磁化装置设计 | 第41-51页 |
| 4.1 管道漏磁检测的磁化方式 | 第41-42页 |
| 4.1.1 常用的磁化方式 | 第41页 |
| 4.1.2 磁化强度的选择 | 第41-42页 |
| 4.2 检测探头结构及磁路优化设计 | 第42-46页 |
| 4.2.1 材料选择 | 第42页 |
| 4.2.2 磁化器结构设计 | 第42-43页 |
| 4.2.3 磁化器等效磁路模型与磁路计算 | 第43-44页 |
| 4.2.4 磁路计算程序设计 | 第44-46页 |
| 4.3 永磁体参数对缺陷漏磁通的影响 | 第46-48页 |
| 4.4 磁化器结构及物理参数 | 第48-50页 |
| 4.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 管道缺陷漏磁检测系统设计 | 第51-60页 |
| 5.1 管道缺陷漏磁检测系统的整体结构 | 第51-52页 |
| 5.1.1 管道缺陷漏磁检测系统结构与功能概述 | 第51页 |
| 5.1.2 漏磁检测系统测试平台 | 第51-52页 |
| 5.2 管道缺陷漏磁检测系统硬件设计 | 第52-56页 |
| 5.2.1 霍尔传感器 | 第52-53页 |
| 5.2.2 信号预处理电路 | 第53-54页 |
| 5.2.3 基于 USB 接口的数据采集卡 | 第54-56页 |
| 5.3 管道缺陷漏磁检测系统软件设计 | 第56-59页 |
| 5.4 实际测试结果 | 第59页 |
| 5.5 本章小结 | 第59-60页 |
| 第六章 漏磁检测信号的后处理及缺陷量化 | 第60-72页 |
| 6.1 漏磁信号采样 | 第60-61页 |
| 6.1.1 空间等距采样 | 第60页 |
| 6.1.2 采样间隔的选取 | 第60-61页 |
| 6.2 漏磁信号的小波降噪 | 第61-64页 |
| 6.2.1 基于软硬阈值的信号小波消噪 | 第62-63页 |
| 6.2.2 基于采样自适应的软硬阈值法的小波消噪 | 第63-64页 |
| 6.3 漏磁信号的数据压缩 | 第64-65页 |
| 6.4 漏磁信号的异点剔除 | 第65-66页 |
| 6.5 漏磁突变信号的小波分析 | 第66-68页 |
| 6.6 管道缺陷几何参数量化研究 | 第68-71页 |
| 6.6.1 多元回归分析数学理论 | 第68-69页 |
| 6.6.2 缺陷周向长度的量化 | 第69页 |
| 6.6.3 缺陷轴向长度的量化 | 第69-70页 |
| 6.6.4 缺陷深度的量化 | 第70-71页 |
| 6.7 本章小结 | 第71-72页 |
| 总结与展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-80页 |
| 致谢 | 第80页 |