基于紧耦合的超宽带天线阵列技术研究
| 摘要 | 第10-11页 |
| ABSTRACT | 第11页 |
| 第一章 绪论 | 第12-23页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-21页 |
| 1.2.1 超宽带天线阵列技术 | 第13-15页 |
| 1.2.2 紧耦合阵列的关键技术 | 第15-19页 |
| 1.2.3 紧耦合阵列的国内外研究与发展 | 第19-21页 |
| 1.3 论文安排与主要工作 | 第21-23页 |
| 1.3.1 本文的主要工作 | 第21页 |
| 1.3.2 本文的组织结构 | 第21-23页 |
| 第二章 平面周期阵列理论分析基础 | 第23-38页 |
| 2.1 Floquet定理基础 | 第23页 |
| 2.2 周期阵列的分析方法 | 第23-28页 |
| 2.2.1 周期边界条件 | 第23-25页 |
| 2.2.2 等效电路方法 | 第25-26页 |
| 2.2.3 周期阵列分析的数值方法 | 第26-28页 |
| 2.3 周期阵列表面波分析 | 第28-30页 |
| 2.4 有限周期阵列分析 | 第30-37页 |
| 2.4.1 终端效应 | 第30-32页 |
| 2.4.2 栅瓣条件及其抑制 | 第32-33页 |
| 2.4.3 阵元有源方向图综合 | 第33-37页 |
| 2.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 紧耦合天线阵列理论分析 | 第38-50页 |
| 3.1 电流层阵列 | 第38-42页 |
| 3.1.1 无限周期阵列 | 第38-39页 |
| 3.1.2 特征阻抗理论 | 第39-42页 |
| 3.2 PEC背板加载的电流层阵列 | 第42-49页 |
| 3.2.1 阵元间电容耦合分析 | 第42-44页 |
| 3.2.2 背板等效电感分析 | 第44-46页 |
| 3.2.3 电流层阵列带宽分析 | 第46-48页 |
| 3.2.4 介质层补偿分析 | 第48-49页 |
| 3.3 本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 采用EBG加载的双极化紧耦合天线阵列 | 第50-57页 |
| 4.1 双极化TCA阵列设计 | 第50-54页 |
| 4.1.1 单元设计 | 第50-51页 |
| 4.1.2 AFSS吸收层与EBG结构加载 | 第51-54页 |
| 4.2 TCA单元仿真结果 | 第54-56页 |
| 4.3 本章小结 | 第56-57页 |
| 第五章 采用集成式平衡馈电的超宽带紧耦合天线阵列 | 第57-81页 |
| 5.1 TCA-IB单元的设计 | 第57-64页 |
| 5.1.1 单元等效电路 | 第57-61页 |
| 5.1.2 单元结构设计 | 第61-63页 |
| 5.1.3 单元性能分析 | 第63-64页 |
| 5.2 集成式平衡馈电设计 | 第64-68页 |
| 5.2.1 平衡与不平衡馈电 | 第64-66页 |
| 5.2.2 宽带集成巴伦设计 | 第66-67页 |
| 5.2.3 宽带集成巴伦仿真分析 | 第67-68页 |
| 5.3 TCA-IB阵列设计与优化 | 第68-72页 |
| 5.3.1 TCA-IB阵列设计 | 第68-69页 |
| 5.3.2 电阻吸收层AFSS | 第69-70页 |
| 5.3.3 宽角扫描阻抗匹配层WAIM | 第70-72页 |
| 5.4 TCA-IB阵列性能分析 | 第72-76页 |
| 5.4.1 增益与极化隔离度 | 第72-74页 |
| 5.4.2 波束扫描特性 | 第74-76页 |
| 5.5 TCA-IB样品加工与测试 | 第76-80页 |
| 5.5.1 加工与组装 | 第76页 |
| 5.5.2 测试结果 | 第76-80页 |
| 5.6 本章小结 | 第80-81页 |
| 结束语 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-88页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第88页 |
