航天器介质充电效应模拟试验中的电位测量技术及应用
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究目的及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 本文内容安排 | 第12页 |
| 1.4 本文解决的关键问题 | 第12-13页 |
| 第二章 研究背景 | 第13-25页 |
| 2.1 航天器内部充电效应 | 第13-16页 |
| 2.1.1 引发航天器内部充电的电子环境 | 第13-14页 |
| 2.1.2 内部充电形成过程 | 第14-16页 |
| 2.2 地面模拟试验 | 第16-25页 |
| 2.2.1 国外实验装置 | 第16-18页 |
| 2.2.2 中科院空间中心实验装置 | 第18-22页 |
| 2.2.3 静电电位的非接触式转接测量方法 | 第22页 |
| 2.2.4 介质电导率测量的电荷贮存衰减法 | 第22-25页 |
| 第三章 非接触式转接测量技术改进 | 第25-37页 |
| 3.1 非接触式转接测量原理 | 第25-28页 |
| 3.2 测量误差的影响因素分析及改进对策 | 第28-31页 |
| 3.2.1 减少感应电荷向大地泄漏 | 第28-30页 |
| 3.2.2 减少感应电荷与空气中异号电荷中和 | 第30页 |
| 3.2.3 系统清零与校准 | 第30-31页 |
| 3.3 系统分辨率的影响因素分析及改进对策 | 第31-36页 |
| 3.3.1 增大感应探头与样品间的耦合电容fC | 第31-34页 |
| 3.3.2 减小转接机构的对地等效电容wC | 第34-36页 |
| 3.4 小结 | 第36-37页 |
| 第四章 电荷贮存衰减法测量介质电导率试验 | 第37-53页 |
| 4.1 介质电导率的影响因素 | 第37-40页 |
| 4.1.1 温度 | 第37页 |
| 4.1.2 电场 | 第37-38页 |
| 4.1.3 辐射效应 | 第38-39页 |
| 4.1.4 出气效应 | 第39-40页 |
| 4.2 测量原理及数据处理方法 | 第40-42页 |
| 4.2.1 测量原理 | 第40-41页 |
| 4.2.2 数据处理方法 | 第41-42页 |
| 4.3 试验目的和流程 | 第42-45页 |
| 4.3.0 试验目的 | 第42页 |
| 4.3.1 试验样品 | 第42页 |
| 4.3.2 试验流程 | 第42-45页 |
| 4.4 试验结果与分析 | 第45-51页 |
| 4.4.1 电位衰减曲线 | 第45-47页 |
| 4.4.2 电导率计算结果 | 第47-51页 |
| 4.5 小结 | 第51-53页 |
| 第五章 总结和展望 | 第53-55页 |
| 5.1 总结 | 第53-54页 |
| 5.2 展望 | 第54-55页 |
| 参考文献 | 第55-59页 |
| 在读期间发表的论文 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
