| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第一章 绪论 | 第13-28页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第13-16页 |
| 1.2 故障诊断发展历程与现状 | 第16-24页 |
| 1.2.1 故障诊断发展回顾 | 第16-19页 |
| 1.2.2 国外故障诊断研究现状 | 第19-22页 |
| 1.2.3 国内故障诊断研究现状 | 第22-24页 |
| 1.3 故障诊断研究的发展趋势 | 第24-25页 |
| 1.4 论文研究内容与结构安排 | 第25-28页 |
| 1.4.1 论文研究思路与主要内容 | 第25-26页 |
| 1.4.2 论文结构安排 | 第26-28页 |
| 第二章 基于相量法的模拟电路故障建模 | 第28-63页 |
| 2.1 相量分析与可测性指标 | 第28-32页 |
| 2.1.1 相量法基础 | 第28-29页 |
| 2.1.2 可测性指标参数 | 第29-32页 |
| 2.1.2.1 故障覆盖与故障检测率 | 第30页 |
| 2.1.2.2 故障隔离率 | 第30-31页 |
| 2.1.2.3 模糊组与模糊度 | 第31-32页 |
| 2.2 基于相量法的斜率故障模型 | 第32-37页 |
| 2.2.1 模拟线性电阻电路的斜率故障模型 | 第32-33页 |
| 2.2.2 复数域斜率故障模型 | 第33-35页 |
| 2.2.3 复数斜率故障模型实例 | 第35-37页 |
| 2.3 模拟电路的相量圆故障模型 | 第37-48页 |
| 2.3.1 单一激励的相量圆故障模型 | 第37-45页 |
| 2.3.1.1 电阻元件失效的相量圆故障模型 | 第41-43页 |
| 2.3.1.2 动态元件失效的相量圆故障模型 | 第43-45页 |
| 2.3.2 多激励的相量圆故障模型 | 第45-47页 |
| 2.3.2.1 多激励的电压相量圆模型 | 第45-46页 |
| 2.3.2.2 多激励的电流相量圆模型 | 第46-47页 |
| 2.3.3 基于相量法的建模流程与复杂度分析 | 第47-48页 |
| 2.4 相量圆模型实例 | 第48-62页 |
| 2.4.1 巴特沃斯滤波器相量圆模型 | 第48-54页 |
| 2.4.1.1 巴特沃斯滤波器故障模型仿真 | 第48-53页 |
| 2.4.1.2 故障覆盖与模糊组 | 第53-54页 |
| 2.4.2 Tow-Thomas双二阶滤波器基准电路 | 第54-58页 |
| 2.4.2.1 相量圆模型仿真 | 第54-55页 |
| 2.4.2.2 相量圆模型的特殊轨迹分析 | 第55-56页 |
| 2.4.2.3 相量圆模型拟合与模糊组 | 第56-58页 |
| 2.4.3 元件容差与故障诊断 | 第58-62页 |
| 2.4.3.1 容差条件下的相量圆模型 | 第58-60页 |
| 2.4.3.2 基于相量圆半径比对的故障诊断方法 | 第60-61页 |
| 2.4.3.3 故障诊断实例 | 第61-62页 |
| 2.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 第三章 基于相量圆模型的可测性设计方法 | 第63-90页 |
| 3.1 基于相量圆模型的BYPASSING设计 | 第63-73页 |
| 3.1.1 Bypassing与可测性设计 | 第64-68页 |
| 3.1.1.1 单个电容支路的Bypassing | 第64-65页 |
| 3.1.1.2 RC串联支路的Bypassing | 第65-66页 |
| 3.1.1.3 RC并联支路的Bypassing | 第66页 |
| 3.1.1.4 电路单元的Bypassing设计 | 第66-68页 |
| 3.1.2 基于Bypassing的模糊组识别 | 第68-73页 |
| 3.1.2.1 基于相量法的Bypassing规则描述 | 第68-69页 |
| 3.1.2.2 基于相量法建模与诊断流程的完善 | 第69-70页 |
| 3.1.2.3 基于Bypassing的模糊组识别实例 | 第70-73页 |
| 3.2 基于冗余设计和BYPASSING的可测性设计 | 第73-82页 |
| 3.2.1 元件参数灵敏度与模糊组 | 第73-74页 |
| 3.2.2 基于无源衰减器的特例 | 第74-78页 |
| 3.2.2.1 基于相量圆模型的故障诊断 | 第74-77页 |
| 3.2.2.2 诊断结论冲突的理论分析 | 第77-78页 |
| 3.2.3 基于冗余设计的DFT | 第78-82页 |
| 3.2.3.1 冗余设计技术及其改进 | 第79-80页 |
| 3.2.3.2 基于冗余设计的DFT | 第80-81页 |
| 3.2.3.3 冗余元件参数选择 | 第81-82页 |
| 3.3 DFT实例验证与对比分析 | 第82-89页 |
| 3.3.1 Tow-Thomas基准电路的DFT | 第82-84页 |
| 3.3.2 Leapfrog基准电路的DFT | 第84-88页 |
| 3.3.3 DFT算法对比分析 | 第88-89页 |
| 3.4 本章小结 | 第89-90页 |
| 第四章 多维相量空间的故障建模方法研究 | 第90-110页 |
| 4.1 相量圆故障模型与斜率故障模型的相关性 | 第90-98页 |
| 4.1.1 基于电压增量的相量圆故障模型 | 第90-96页 |
| 4.1.1.1 电阻元件失效的电压增量相量圆故障模型 | 第92-93页 |
| 4.1.1.2 动态元件失效的电压增量相量圆故障模型 | 第93-94页 |
| 4.1.1.3 电压增量相量圆故障模型的特性 | 第94-96页 |
| 4.1.2 电压增量相量圆模型与斜率模型的关系 | 第96-98页 |
| 4.2 面向三维复数相量空间的故障建模方法 | 第98-106页 |
| 4.2.1 模拟电路 3D故障模型 | 第98-100页 |
| 4.2.2 3D建模实例 | 第100-102页 |
| 4.2.3 3D建模算法仿真与对比分析 | 第102-106页 |
| 4.3 相量空间的多故障建模方法 | 第106-109页 |
| 4.4 本章小结 | 第109-110页 |
| 第五章 基于马氏距离的故障特征提取方法 | 第110-128页 |
| 5.1 样本统计分析与距离判别分析 | 第110-115页 |
| 5.1.1 故障特征提取技术概述 | 第110-111页 |
| 5.1.2 基于样本距离的判别分析法 | 第111-115页 |
| 5.1.2.1 欧氏距离 | 第112-113页 |
| 5.1.2.2 马氏距离 | 第113-114页 |
| 5.1.2.3 欧氏距离与马氏距离的关联 | 第114-115页 |
| 5.2 基于马氏距离的模拟电路故障特征提取 | 第115-122页 |
| 5.2.1 总体正态分布的马氏距离 | 第115-117页 |
| 5.2.1.1 正态同协方差矩阵的马氏距离 | 第115-117页 |
| 5.2.1.2 正态协方差矩阵不等的马氏距离 | 第117页 |
| 5.2.2 加权马氏距离 | 第117-122页 |
| 5.2.2.1 基于信息熵的加权马氏距离 | 第117-119页 |
| 5.2.2.2 基于主成分方差贡献率的加权马氏距离 | 第119-121页 |
| 5.2.2.3 算法流程与复杂度分析 | 第121-122页 |
| 5.3 基于马氏距离的故障特征提取实例 | 第122-126页 |
| 5.3.1 软故障特征提取实例 | 第123-125页 |
| 5.3.2 硬故障特征提取实例 | 第125-126页 |
| 5.4 本章小结 | 第126-128页 |
| 第六章 模拟电路多故障诊断策略的研究 | 第128-152页 |
| 6.1 多测点电压灵敏度诊断策略 | 第128-131页 |
| 6.1.1 电路灵敏度分析 | 第128-129页 |
| 6.1.2 多测点电压灵敏度故障字典 | 第129-131页 |
| 6.2 多频电压灵敏度诊断策略 | 第131-139页 |
| 6.2.1 多测点电压灵敏度故障字典法 | 第132-136页 |
| 6.2.2 诊断方法改进与电路仿真 | 第136-139页 |
| 6.3 基于脉冲激励的诊断策略 | 第139-151页 |
| 6.3.1 傅里叶级数与小波特征提取 | 第139-143页 |
| 6.3.2 基于HIWO优化的SVM | 第143-148页 |
| 6.3.2.1 支持向量机及核函数 | 第143-144页 |
| 6.3.2.2 杂草优化算法 | 第144-145页 |
| 6.3.2.3 基于混沌的杂草种群初始化 | 第145-146页 |
| 6.3.2.4 HIWO-SVM故障诊断方法 | 第146-148页 |
| 6.3.3 实例验证与对比分析 | 第148-151页 |
| 6.4 本章小结 | 第151-152页 |
| 第七章 结束语 | 第152-155页 |
| 7.1 论文工作总结 | 第152-153页 |
| 7.2 研究展望 | 第153-155页 |
| 致谢 | 第155-156页 |
| 参考文献 | 第156-165页 |
| 攻博期间取得的研究成果 | 第165-167页 |
