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不同晶态对La1-xSrxMnO3(x=0.33,0.5)薄膜电性及磁性的影响

摘要第4-6页
abstract第6-7页
1 绪论第10-16页
    1.1 引言第10页
    1.2 钙钛矿锰氧化物第10-12页
        1.2.1 钙钛矿锰氧化物的结构第10-11页
        1.2.2 钙钛矿锰氧化物的研究进展第11-12页
    1.3 非易失存储器器件研究进展第12-13页
        1.3.1 非易失存储器的分类第12页
        1.3.2 透明电阻开关特性的研究进展第12页
        1.3.3 La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3为基础的电阻开关特性的研究进展第12-13页
    1.4 交换偏置的研究进展第13-14页
        1.4.1 交换偏置的定义第13页
        1.4.2 交换偏置的分类第13页
        1.4.3 交换偏置目前的研究进展第13-14页
    1.5 本文研究的主要内容第14-16页
2 样品制备与仪器简介第16-20页
    2.1 溶胶凝胶法制备薄膜及其表征方法第16-17页
        2.1.1 匀胶机和退火炉的介绍第16页
        2.1.2 样品的制备第16-17页
        2.1.3 测试仪器简介第17页
    2.2 蒸镀电极第17-18页
        2.2.1 高真空电阻蒸发镀膜机第17-18页
        2.2.2 掩膜板第18页
    2.3 器件的电性表征第18页
        2.3.1 测试I-V仪器第18页
        2.3.2 电性测试方法第18页
    2.4 LSMO薄膜的透光率和元素能谱测试第18页
    2.5 薄膜的磁性表征第18-20页
3 不同晶态La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3薄膜电阻开关特性第20-28页
    3.1 引言第20页
    3.2 La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3薄膜的制备和表征第20-23页
        3.2.1 La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3薄膜的制备第20-21页
        3.2.2 两种LSMO薄膜的表征第21-23页
    3.3 不同晶态的Ag/LSMO/FTO器件的电阻开关特性第23-27页
        3.3.1 Ag/LSMO/FTO器件的电阻开关特性测量第23-25页
        3.3.2 两种器件的机理第25-27页
    3.4 本章小结第27-28页
4 不同退火温度对La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3薄膜磁性的影响第28-37页
    4.1 引言第28页
    4.2 La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3薄膜的制备和表征第28-29页
    4.3 不同La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3薄膜XPS谱分析第29-31页
    4.4 不同La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3薄膜磁及电阻特性第31-36页
        4.4.1 不同La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3薄膜的磁性第31-33页
        4.4.2 不同La_(0.67)Sr_(0.33)MnO_3薄膜的磁电阻第33-36页
    4.5 本章小结第36-37页
5 晶态La_(0.5)Sr_(0.5)MnO_3薄膜的交换偏置效应第37-43页
    5.1 引言第37页
    5.2 晶态La_(0.5)Sr_(0.5)MnO_3薄膜的制备与表征第37-38页
        5.2.1 La_(0.5)Sr_(0.5)MnO_3薄膜的制备第37-38页
        5.2.2 La_(0.5)Sr_(0.5)MnO_3薄膜的表征第38页
    5.3 La_(0.5)Sr_(0.5)MnO_3薄膜交换偏置效应第38-42页
    5.4 本章小结第42-43页
6 结论第43-45页
参考文献第45-49页
致谢第49页

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