摘要 | 第10-12页 |
Abstract | 第12-14页 |
第一章 绪论 | 第15-27页 |
1.1 研究背景 | 第15-16页 |
1.2 CNT的结构及功能化修饰 | 第16-18页 |
1.2.1 CNT的结构及主要参数 | 第16-17页 |
1.2.2 CNT的功能化修饰及分散 | 第17-18页 |
1.3 CNT薄膜的制备方法及发展概况 | 第18-20页 |
1.3.1 CNT薄膜的制备方法 | 第18-19页 |
1.3.2 CNT薄膜的发展概况及前景 | 第19-20页 |
1.4 纳米ZnO | 第20-23页 |
1.4.1 纳米ZnO的结构及特性 | 第20-22页 |
1.4.2 纳米ZnO的研究与应用 | 第22-23页 |
1.5 纳米ZnO粉体的制备 | 第23页 |
1.5.1 固相法 | 第23页 |
1.5.2 液相法 | 第23页 |
1.5.3 气相法 | 第23页 |
1.6 本文的研究意义与研究内容 | 第23-27页 |
第二章 CNT的功能化修饰 | 第27-45页 |
2.1 引言 | 第27页 |
2.2 CNT的羧基功能化 | 第27-30页 |
2.2.1 实验原料 | 第27-28页 |
2.2.2 实验仪器 | 第28-29页 |
2.2.3 实验过程 | 第29-30页 |
2.3 羧基化后的CNT的表征与分析 | 第30-35页 |
2.3.1 SEM形貌表征 | 第30-31页 |
2.3.2 红外光谱分析(FTIR) | 第31-33页 |
2.3.3 热重分析(TGA) | 第33-35页 |
2.4 CNT的氨基功能化 | 第35-38页 |
2.4.1 实验原料 | 第35页 |
2.4.2 实验原料 | 第35-36页 |
2.4.3 实验过程 | 第36-38页 |
2.5 氨基功能化CNT的表征与分析 | 第38-43页 |
2.5.1 SEM形貌表征 | 第38-39页 |
2.5.2 红外光谱分析(FTIR) | 第39-40页 |
2.5.3 热重分析(TGA) | 第40页 |
2.5.4 功能化CNT的分散性能及表征 | 第40-43页 |
2.6 本章小结 | 第43-45页 |
第三章 纳米ZnO粉体的制备及表征 | 第45-59页 |
3.1 引言 | 第45页 |
3.2 实验部分 | 第45-48页 |
3.2.1 实验原料 | 第45-46页 |
3.2.2 实验仪器 | 第46-47页 |
3.2.3 实验过程 | 第47-48页 |
3.3 物相分析 | 第48-50页 |
3.3.1 XRD测试原理及设备 | 第48-49页 |
3.3.2 XRD测试结果分析 | 第49-50页 |
3.4 粒度分析 | 第50-51页 |
3.5 形貌分析 | 第51-52页 |
3.6 热重分析(TGA) | 第52-53页 |
3.7 ZnO压电性能测试 | 第53-56页 |
3.7.1 ZnO压电陶瓷片的制备 | 第53-55页 |
3.7.2 压电性能测试 | 第55-56页 |
3.8 本章小结 | 第56-59页 |
第四章 CNT薄膜的组装及表征 | 第59-69页 |
4.1 引言 | 第59页 |
4.2 实验原料、设备及过程 | 第59-63页 |
4.2.1 实验原料和设备 | 第59-60页 |
4.2.2 实验过程 | 第60-63页 |
4.3 CNT薄膜的表征 | 第63-67页 |
4.3.1 SEM表征 | 第63-65页 |
4.3.2 薄膜的电学性能的测定 | 第65-67页 |
4.4 本章小结 | 第67-69页 |
第五章 CNT/ZnO夹层薄膜传感器的制备与性能研究 | 第69-85页 |
5.1 引言 | 第69页 |
5.2 压阻效应 | 第69-70页 |
5.3 CNT/ZnO夹层薄膜传感器的制备 | 第70-71页 |
5.3.1 实验材料和设备 | 第70页 |
5.3.2 实验过程 | 第70-71页 |
5.4 传感器压阻性能的测试及分析 | 第71-76页 |
5.4.1 拉伸和压缩状态下压阻性能测试 | 第71-74页 |
5.4.2 不同加载速率的压阻性能 | 第74-76页 |
5.5 传感器的基本特征 | 第76-79页 |
5.5.1 灵敏度 | 第76-78页 |
5.5.2 线性度 | 第78-79页 |
5.6 振动测量 | 第79-84页 |
5.7 本章小结 | 第84-85页 |
第六章 结论与展望 | 第85-89页 |
6.1 结论 | 第85-87页 |
6.2 后续工作与建议 | 第87-89页 |
参考文献 | 第89-95页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第95-96页 |
致谢 | 第96页 |