| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4页 |
| 1 绪论 | 第7-21页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第7-9页 |
| 1.2 纳米复合材料概述 | 第9-10页 |
| 1.3 核壳材料概述 | 第10-13页 |
| 1.3.1 核壳材料简介 | 第10-11页 |
| 1.3.2 核壳材料的合成方法与机理 | 第11-12页 |
| 1.3.3 几种核壳材料的制备与应用 | 第12-13页 |
| 1.4 二氧化硅概述 | 第13-14页 |
| 1.4.1 二氧化硅简介 | 第13页 |
| 1.4.2 二氧化硅微球简介 | 第13-14页 |
| 1.5 ATO概述 | 第14-20页 |
| 1.5.1 SnO-2的基本性质和结构 | 第14-15页 |
| 1.5.2 掺杂SnO-2的种类及性质 | 第15-16页 |
| 1.5.3 ATO导电机理 | 第16-17页 |
| 1.5.4 ATO的制备方法 | 第17-19页 |
| 1.5.5 ATO在透明隔热涂料中的应用 | 第19-20页 |
| 1.6 本课题研究内容和目的 | 第20-21页 |
| 2 实验部分 | 第21-31页 |
| 2.1 实验药品与实验设备 | 第21-22页 |
| 2.2 试样的制备 | 第22-26页 |
| 2.2.1 纳米SiO_2微球的制备 | 第22-23页 |
| 2.2.2 SiO_2@ATO的制备 | 第23-24页 |
| 2.2.3 不同m(SiO_2)：m(ATO)的核壳材料的制备 | 第24-25页 |
| 2.2.4 SiO_2@ATO/PMMA涂膜的制备 | 第25-26页 |
| 2.3 试样表征方法 | 第26-30页 |
| 2.3.1 X射线粉末衍射测试 | 第26页 |
| 2.3.2 UV-Vis-NIR光谱测试 | 第26-27页 |
| 2.3.3 激光粒度与Zeta电位测试 | 第27-29页 |
| 2.3.4 扫描电子显微镜测试 | 第29页 |
| 2.3.5 分散稳定性测试 | 第29页 |
| 2.3.6 隔热性能测试 | 第29-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 3 结果与讨论 | 第31-55页 |
| 3.1 物相分析 | 第31-33页 |
| 3.2 分散稳定性 | 第33-36页 |
| 3.2.1 浊度测试分析 | 第33-34页 |
| 3.2.2 Zeta电位分析 | 第34-36页 |
| 3.3 粒径分析 | 第36-40页 |
| 3.4 UV-VIS-NIR光谱分析 | 第40-44页 |
| 3.4.1 紫外阻隔效果 | 第40页 |
| 3.4.2 可见光透射比 | 第40-42页 |
| 3.4.3 红外阻隔效果 | 第42-43页 |
| 3.4.4 禁带宽度计算 | 第43-44页 |
| 3.5 隔热性能 | 第44-46页 |
| 3.6 形貌分析 | 第46-48页 |
| 3.7 隔热机理分析 | 第48-52页 |
| 3.7.1 理论分析 | 第48-49页 |
| 3.7.2 CASTEP能带计算 | 第49-52页 |
| 3.8 本章小结 | 第52-55页 |
| 4 SiO_2@ATO制备工艺优化研究 | 第55-65页 |
| 4.1 概述 | 第55页 |
| 4.2 工艺简介 | 第55-56页 |
| 4.3 工艺分析 | 第56-58页 |
| 4.4 成本核算及问题分析 | 第58-59页 |
| 4.5 工艺优化设计 | 第59-63页 |
| 4.5.1 SiO_2制备工艺优化 | 第59-61页 |
| 4.5.2 SiO_2@ATO制备工艺优化 | 第61-63页 |
| 4.6 本章小结 | 第63-65页 |
| 5 结论与展望 | 第65-67页 |
| 5.1 结论 | 第65页 |
| 5.2 展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-74页 |