利用经典波系统类比电子系统界面态的研究
| 中文摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 从电子波到经典波 | 第10-12页 |
| 1.2 从拓扑绝缘体到经典波系统类比 | 第12-16页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第二章 声子晶体中的界面态研究 | 第17-31页 |
| 2.1 经典波系统界面态研究概述 | 第17-21页 |
| 2.2 二维声子晶体中界面态研究 | 第21-29页 |
| 2.3 结论 | 第29-31页 |
| 第三章 光子晶体中的相关研究 | 第31-47页 |
| 3.1 光子晶体系统中确定性界面态研究介绍 | 第31-34页 |
| 3.2 偏微分方程的弱形式介绍 | 第34-46页 |
| 3.2.1 从PDE方程到弱形式 | 第35页 |
| 3.2.2 试函数υ的选取 | 第35-36页 |
| 3.2.3 二维弱形式能带计算设置 | 第36-42页 |
| 3.2.4 新型背景结构中的应用 | 第42-45页 |
| 3.2.5 等频率曲线求解中的应用 | 第45-46页 |
| 3.3 结论 | 第46-47页 |
| 第四章 声学测量平台的构建 | 第47-75页 |
| 4.1 虚拟仪器简介及Labview概述 | 第47-49页 |
| 4.1.1 数据采集(DAQ) | 第48页 |
| 4.1.2 仪器控制 | 第48-49页 |
| 4.2 声学信号采集与测量 | 第49-50页 |
| 4.2.1 声学信号测量的数学方法 | 第49页 |
| 4.2.2 声学信号采集 | 第49-50页 |
| 4.3 二维声学扫场系统的设计 | 第50-68页 |
| 4.3.1 声学扫场系统的硬件构成 | 第50-52页 |
| 4.3.2 声学扫场系统的软件构成 | 第52-68页 |
| 4.3.3 小结 | 第68页 |
| 4.4 脉冲法声学材料性质测量系统设计 | 第68-75页 |
| 4.4.1 声学材料性质测量系统的硬件构成 | 第69-70页 |
| 4.4.2 脉冲法声学材料性质测量系统的软件构成 | 第70-73页 |
| 4.4.3 小结 | 第73-75页 |
| 第五章 总结与展望 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-82页 |
| 攻读硕士期间公开发表的论文和专利 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
