2.4GHz CMOS低功耗压控振荡器设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题背景与意义 | 第8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-10页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第10页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第10页 |
| 1.3.2 设计指标 | 第10页 |
| 1.4 论文组织 | 第10-12页 |
| 第二章 振荡器基本原理分析 | 第12-26页 |
| 2.1 振荡器概述 | 第12页 |
| 2.2 振荡器基本原理分析 | 第12-14页 |
| 2.2.1 正反馈分析法 | 第12-13页 |
| 2.2.2 负阻分析法 | 第13-14页 |
| 2.3 振荡器指标分析 | 第14-15页 |
| 2.4 振荡器相位噪声 | 第15-24页 |
| 2.4.1 相位噪声概述 | 第15-17页 |
| 2.4.2 Hajimiri模型 | 第17-21页 |
| 2.4.3 LC振荡器相位噪声分析 | 第21-24页 |
| 2.5 本章总结 | 第24-26页 |
| 第三章 LC-VCO电路设计与优化 | 第26-60页 |
| 3.1 压控振荡器核心电路设计 | 第26-29页 |
| 3.1.1 NMOS晶体管交叉耦合振荡电路 | 第26-27页 |
| 3.1.2 电阻和NMOS晶体管构成放大器 | 第27页 |
| 3.1.3 互补型交叉耦合结构 | 第27-29页 |
| 3.2 低功耗设计 | 第29-30页 |
| 3.3 低相位噪声设计 | 第30-31页 |
| 3.3.1 电路对称性 | 第30页 |
| 3.3.2 二次谐波滤波技术 | 第30-31页 |
| 3.4 压控振荡器电路设计及优化 | 第31-44页 |
| 3.4.1 MOS晶体管的选取 | 第32-34页 |
| 3.4.2 电感参数的选取 | 第34-36页 |
| 3.4.3 LC-VCO的初步仿真分析 | 第36-39页 |
| 3.4.4 调谐范围优化 | 第39-40页 |
| 3.4.5 调谐电压优化 | 第40-41页 |
| 3.4.6 谐振腔电容优化 | 第41页 |
| 3.4.7 电流源优化 | 第41-42页 |
| 3.4.8 输出缓冲电路的优化 | 第42-43页 |
| 3.4.9 最终设计电路 | 第43-44页 |
| 3.5 VCO前仿真结果 | 第44-58页 |
| 3.5.1 TT工艺角前仿真 | 第44-49页 |
| 3.5.2 FF工艺角前仿真 | 第49-53页 |
| 3.5.3 SS工艺角前仿真 | 第53-58页 |
| 3.5.4 前仿真结果分析 | 第58页 |
| 3.6 本章总结 | 第58-60页 |
| 第四章 LC-VCO版图设计与后仿真 | 第60-80页 |
| 4.1 版图设计 | 第60-61页 |
| 4.2 电路后仿真结果 | 第61-76页 |
| 4.2.1 TT工艺角后仿真 | 第61-66页 |
| 4.2.2 FF工艺角后仿真 | 第66-70页 |
| 4.2.3 SS工艺角后仿真 | 第70-75页 |
| 4.2.4 后仿真结果分析 | 第75-76页 |
| 4.3 VCO测试方案 | 第76-78页 |
| 4.3.1 测试仪器及引脚说明 | 第76-77页 |
| 4.3.2 直流工作点测试 | 第77页 |
| 4.3.3 输出波形测试 | 第77页 |
| 4.3.4 调谐特性及相位噪声测试 | 第77-78页 |
| 4.4 本章总结 | 第78-80页 |
| 第五章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 5.1 工作总结 | 第80页 |
| 5.2 工作展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 致谢 | 第86-88页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第88页 |
