| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 序言 | 第9-10页 |
| 目录 | 第10-12页 |
| 1 引言 | 第12-24页 |
| 1.1 光伏产业发展的背景和现状 | 第12-16页 |
| 1.2 光伏产品认证 | 第16-18页 |
| 1.2.1 产品认证模式 | 第16页 |
| 1.2.2 光伏认证 | 第16-18页 |
| 1.3 中国太阳能光伏产业标准研发现状 | 第18-19页 |
| 1.4 太阳能电池组件缺陷检测技术的发展 | 第19-21页 |
| 1.5 研究EL测试标准的重要意义 | 第21-22页 |
| 1.6 本文的主要工作 | 第22-24页 |
| 2 晶硅太阳能电池及EL测试原理 | 第24-34页 |
| 2.1 晶硅太阳能电池的原理和特性 | 第24-27页 |
| 2.1.1 晶硅太阳能电池的原理 | 第24页 |
| 2.1.2 晶硅太阳能电池的特性 | 第24-27页 |
| 2.2 EL测试的原理 | 第27-34页 |
| 2.2.1 EL测试设备及构成 | 第28-31页 |
| 2.2.2 晶体硅太阳能电池中存在的缺陷 | 第31-34页 |
| 3 EL测试系统搭建及标准测试流程的研究 | 第34-38页 |
| 3.1 测试系统的搭建 | 第34-35页 |
| 3.1.1 标准测试环境 | 第34页 |
| 3.1.2 测试系统的搭建 | 第34-35页 |
| 3.2 标准测试流程的研究 | 第35-38页 |
| 3.2.1 相机设置 | 第35-36页 |
| 3.2.2 偏置电流及成像 | 第36-37页 |
| 3.2.3 计算机捕获图像及处理 | 第37-38页 |
| 4 通过EL测试研究电池片隐裂 | 第38-54页 |
| 4.1 电池片的EL测试实验 | 第38-40页 |
| 4.2 晶体硅电池片隐裂模拟实验 | 第40-50页 |
| 4.2.1 不同位置简单直线裂纹对单个晶体硅电池片电性能的影响 | 第41-46页 |
| 4.2.2 点压力对单个晶体硅电池片电性能的影响 | 第46-50页 |
| 4.3 PYTHON编程分析计算电池片失效面积 | 第50-53页 |
| 4.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 5 通过EL测试研究组件缺陷 | 第54-69页 |
| 5.1 组件和组串的测试 | 第54-58页 |
| 5.1.1 户外单个组件的EL测试及其它参数的STC修正 | 第55-57页 |
| 5.1.2 组串测试 | 第57-58页 |
| 5.2 组件中几种缺陷的研究 | 第58-67页 |
| 5.2.1 隐裂 | 第59-60页 |
| 5.2.2 明暗片 | 第60-61页 |
| 5.2.3 黑片和黑边 | 第61-63页 |
| 5.2.4 断栅 | 第63-64页 |
| 5.2.5 黑斑和固有缺陷 | 第64-66页 |
| 5.2.6 破片 | 第66-67页 |
| 5.3 EL测试判定方案的制定 | 第67-68页 |
| 5.4 本章小结 | 第68-69页 |
| 6 结论与展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 附录 | 第73-74页 |
| 索引 | 第74-75页 |
| 作者简历 | 第75-77页 |
| 学位论文数据集 | 第77页 |