| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 课题研究背景、目的及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 机器视觉技术国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 主轴回转误差检测技术国内外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.4 本文的主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 编码器主轴回转误差测量系统搭建 | 第17-25页 |
| 2.1 机器视觉回转误差测量系统搭建 | 第17-20页 |
| 2.1.1 检测系统总体设计方案 | 第17-18页 |
| 2.1.2 系统硬件组成 | 第18-20页 |
| 2.2 测量系统软件开发 | 第20-21页 |
| 2.3 编码器主轴回转误差评定方法 | 第21-25页 |
| 2.3.1 编码器主轴回转误差的评定方法 | 第21-22页 |
| 2.3.2 基于圆度误差数据处理方法的回转误差评定 | 第22-24页 |
| 2.3.3 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 光栅基圆图像预处理与特征提取 | 第25-44页 |
| 3.1 光栅基圆图像处理流程 | 第25-26页 |
| 3.2 编码器光栅图像预处理 | 第26-29页 |
| 3.2.1 图像噪声及滤波处理 | 第26-27页 |
| 3.2.2 阈值分割 | 第27-28页 |
| 3.2.3 连通区域提取 | 第28-29页 |
| 3.3 编码器光栅基圆边缘提取 | 第29-35页 |
| 3.3.1 像素级光栅基圆图像边缘提取方法研究 | 第29-31页 |
| 3.3.2 亚像素级光栅基圆图像边缘提取算法研究 | 第31-33页 |
| 3.3.3 处理结果对比 | 第33-35页 |
| 3.4 改进的三次插值多项式编码器光栅边缘检测算法 | 第35-41页 |
| 3.4.1 典型的形态学边缘检测方法 | 第35-36页 |
| 3.4.2 改进的形态学边缘检测算法 | 第36-37页 |
| 3.4.3 三次多项式插值边缘检测方法 | 第37-38页 |
| 3.4.4 基于改进的形态学梯度三次多项式插值边缘检测算法 | 第38-40页 |
| 3.4.5 处理结果对比 | 第40-41页 |
| 3.5 最小二乘法计算并绘制光栅基圆 | 第41-42页 |
| 3.6 本章小结 | 第42-44页 |
| 第4章 编码器主轴回转误差实验与评估 | 第44-55页 |
| 4.1 回转误差测量实验精度分析 | 第44-46页 |
| 4.2 回转误差测量实验 | 第46-49页 |
| 4.2.1 回转误差的实验测量过程 | 第46-47页 |
| 4.2.2 图像采集 | 第47-48页 |
| 4.2.3 回转误差的评定 | 第48-49页 |
| 4.3 优化的最小二乘法编码器主轴回转误差评估算法 | 第49-54页 |
| 4.3.1 Bayes理论优化最小二乘评估算法的研究 | 第49-52页 |
| 4.3.2 基于Bayes理论优化最小二乘法的回转误差评估 | 第52-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第5章 编码器主轴回转误差对转角精度的影响分析 | 第55-66页 |
| 5.1 编码器主轴回转误差对编码器造成的影响 | 第55-59页 |
| 5.2 基于小波变换编码器精度误差分量评估算法 | 第59-65页 |
| 5.2.1 小波变换原理 | 第59-60页 |
| 5.2.2 小波变换在精度误差评估中的应用 | 第60-62页 |
| 5.2.3 基于小波变换编码器回转误差对总体精度的影响分析 | 第62-65页 |
| 5.3 本章小结 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
