| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 引言 | 第10-15页 |
| 1.1.1 半导体激光器的发展 | 第10-11页 |
| 1.1.2 半导体激光器的应用 | 第11页 |
| 1.1.3 半导体激光器的可靠性 | 第11-15页 |
| 1.2 半导体激光器老化筛选系统国内外发展状况 | 第15-16页 |
| 1.3 本研究课题的研究内容 | 第16-17页 |
| 1.3.1 课题的来源、意义 | 第16页 |
| 1.3.2 课题的主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 老化筛选控制系统结构与功能设计 | 第17-22页 |
| 2.1 半导体激光器的老化筛选控制系统结构设计原则 | 第17-18页 |
| 2.1.1 实时性 | 第17页 |
| 2.1.2 通用性和扩展性 | 第17页 |
| 2.1.3 友好的人机界面 | 第17页 |
| 2.1.4 易维护性 | 第17-18页 |
| 2.2 半导体激光器老化筛选控制系统结构设计 | 第18-20页 |
| 2.2.1 上位机结构 | 第18页 |
| 2.2.2 下位机结构 | 第18-20页 |
| 2.3 上位机(PC)功能设计 | 第20页 |
| 2.4 下位机功能设计 | 第20-21页 |
| 本章小结 | 第21-22页 |
| 第3章 老化筛选控制系统的硬件电路实现 | 第22-38页 |
| 3.1 电路单元模块组成设计 | 第22-32页 |
| 3.1.1 选通扩展电路 | 第22-24页 |
| 3.1.2 数据采样、存储设计 | 第24-28页 |
| 3.1.3 驱动板控制电路设计 | 第28-31页 |
| 3.1.4 光电流放大电路 | 第31-32页 |
| 3.2 激光器的保护设计 | 第32-34页 |
| 3.3 半导体激光器老化筛选系统抗干扰措施 | 第34-37页 |
| 3.3.1 看门狗电路设计 | 第34-35页 |
| 3.3.2 旁路和去耦 | 第35-36页 |
| 3.3.3 PCB 板抗干扰措施 | 第36-37页 |
| 本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 驱动板控制电路的MATLAB 仿真与优化 | 第38-48页 |
| 4.1 MATLAB 验证与优化步骤 | 第38-40页 |
| 4.2 MATLAB 验证与优化仿真软件介绍 | 第40-43页 |
| 4.2.1 仿真软件参数设置部分介绍 | 第40-42页 |
| 4.2.2 仿真软件结果显示部分介绍 | 第42-43页 |
| 4.3 仿真与优化分析举例 | 第43-47页 |
| 4.3.1 最优化仿真参数 | 第43-44页 |
| 4.3.2 仿真分析及其结果 | 第44-47页 |
| 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 半导体激光器老化筛选控制系统软件设计 | 第48-63页 |
| 5.1 单片机软件设计 | 第48-57页 |
| 5.1.1 控制功能的流程设计 | 第48-50页 |
| 5.1.2 控制功能的具体实现 | 第50-52页 |
| 5.1.3 单片机程序主要流程图 | 第52-57页 |
| 5.2 PC 机软件设计 | 第57-61页 |
| 5.2.1 用MSCOM 控件实现串行通信程序 | 第57-58页 |
| 5.2.2 数据库管理 | 第58-59页 |
| 5.2.3 界面管理模块 | 第59-61页 |
| 本章小结 | 第61-63页 |
| 第6章 系统调试及实验 | 第63-75页 |
| 6.1 系统实验目的 | 第63页 |
| 6.2 系统实验方案以及调试环境 | 第63-65页 |
| 6.2.1 单片机仿真器 | 第63-64页 |
| 6.2.2 μVisi0112 集成开发环境下编程与调试 | 第64-65页 |
| 6.3 实验步骤 | 第65-66页 |
| 6.4 实验结果及其分析 | 第66-74页 |
| 6.4.1 室温下实验结果及系统误差分析 | 第67-68页 |
| 6.4.2 高温下实验结果及其分析 | 第68-74页 |
| 本章小结 | 第74-75页 |
| 结论 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81页 |