流水线ADC数字后台校正算法的设计研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 研究背景与目的 | 第16-17页 |
| 1.2 国内外研究现状和发展趋势 | 第17-19页 |
| 1.2.1 流水线ADC的研究现状 | 第17页 |
| 1.2.2 数字校正技术的研究现状 | 第17-18页 |
| 1.2.3 流水线ADC校正技术的发展趋势 | 第18-19页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第19页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第19-22页 |
| 第二章 流水线ADC基本原理和性能参数分析 | 第22-32页 |
| 2.1 ADC基本原理 | 第22-24页 |
| 2.1.1 模拟信号和数字信号 | 第22页 |
| 2.1.2 流水线ADC工作原理 | 第22-24页 |
| 2.2 ADC性能参数 | 第24-31页 |
| 2.2.1 动态参数 | 第24-26页 |
| 2.2.2 静态参数 | 第26-31页 |
| 2.3 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 流水线ADC误差源分析 | 第32-46页 |
| 3.1 采样保持电路 | 第32-37页 |
| 3.1.1 采样模式 | 第33-36页 |
| 3.1.2 保持模式 | 第36页 |
| 3.1.3 孔径误差 | 第36-37页 |
| 3.2 子模数转换器（Sub-ADC） | 第37-42页 |
| 3.2.1 子级 2.5 位模数转换器 | 第37-39页 |
| 3.2.2 数字校正算法原理 | 第39-42页 |
| 3.3 余差放大电路（MDAC） | 第42-45页 |
| 3.3.1 运算放大器有限增益 | 第42-44页 |
| 3.3.2 电容元件失配 | 第44-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 传统流水线模型搭建与仿真 | 第46-54页 |
| 4.1 理想流水线ADC模型搭建 | 第46-49页 |
| 4.1.1 Flash ADC仿真模型 | 第46页 |
| 4.1.2 子DAC仿真模型 | 第46-47页 |
| 4.1.3 流水线ADC子级仿真模型 | 第47-49页 |
| 4.2 非理想流水线ADC模型搭建 | 第49-52页 |
| 4.2.1 子ADC误差仿真模型 | 第50页 |
| 4.2.2 MDAC误差仿真分析 | 第50-52页 |
| 4.3 本章小结 | 第52-54页 |
| 第五章 流水线ADC数字后台校正 | 第54-68页 |
| 5.1 传统流水线ADC量化噪声分析 | 第54-56页 |
| 5.2 多位DAC电容元件失配分析 | 第56-57页 |
| 5.3 数字后台校正技术 | 第57-65页 |
| 5.3.1 动态元件匹配技术（DEM技术） | 第57-62页 |
| 5.3.2 DAC噪声消除技术（DNC技术） | 第62-65页 |
| 5.4 仿真验证结果 | 第65-67页 |
| 5.5 本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 总结与展望 | 第68-70页 |
| 6.1 论文总结 | 第68-69页 |
| 6.2 论文存在问题 | 第69页 |
| 6.3 未来展望 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-74页 |
| 致谢 | 第74-76页 |
| 作者简介 | 第76-77页 |
