CdO基陶瓷的高温热电性能研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-19页 |
| 1.1 热电材料简介 | 第10-12页 |
| 1.1.1 研究历史 | 第10-11页 |
| 1.1.2 热电材料研究进展 | 第11-12页 |
| 1.2 热电基础理论及其主要应用 | 第12-17页 |
| 1.2.1 Seebeck效应 | 第12-13页 |
| 1.2.2 Peltier效应 | 第13页 |
| 1.2.3 Thomson效应 | 第13-14页 |
| 1.2.4 Kelvin关系 | 第14页 |
| 1.2.5 热电材料性能的评价标准 | 第14-15页 |
| 1.2.6 提高热电性能的途径 | 第15-16页 |
| 1.2.7 热电材料的实际应用 | 第16-17页 |
| 1.3 氧化物热电材料的研究进展 | 第17-18页 |
| 1.4 课题研究的主要内容及意义 | 第18-19页 |
| 第2章 样品制备与性能测试 | 第19-24页 |
| 2.1 实验原料及设备仪器 | 第19页 |
| 2.1.1 主要化学试剂 | 第19页 |
| 2.1.2 主要设备仪器 | 第19页 |
| 2.2 样品制备方法 | 第19-20页 |
| 2.3 样品表征方法 | 第20-24页 |
| 2.3.1 晶体结构分析(X射线衍射) | 第20-21页 |
| 2.3.2 表面形貌分析(扫描电子显微镜) | 第21页 |
| 2.3.3 霍尔测试 | 第21-22页 |
| 2.3.4 电阻率和Seebeck系数测试 | 第22-23页 |
| 2.3.5 热导率测试 | 第23-24页 |
| 第3章 CdO电学性能的调控 | 第24-34页 |
| 3.1 引言 | 第24页 |
| 3.2 样品制备 | 第24-25页 |
| 3.3 样品的XRD、SEM分析和霍尔测量 | 第25-28页 |
| 3.3.1 XRD晶体结构分析 | 第25-26页 |
| 3.3.2 SEM微观形貌分析 | 第26-27页 |
| 3.3.3 样品的霍尔测试 | 第27-28页 |
| 3.4 样品的热电性能 | 第28-33页 |
| 3.4.1 电阻率和Seebeck系数 | 第28-30页 |
| 3.4.2 热导率 | 第30-32页 |
| 3.4.3 热电优值ZT | 第32-33页 |
| 3.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第4章 CdO热学性能的调控 | 第34-43页 |
| 4.1 引言 | 第34页 |
| 4.2 样品制备 | 第34页 |
| 4.3 样品的XRD、SEM分析和霍尔测量 | 第34-37页 |
| 4.3.1 XRD晶体结构分析 | 第34-35页 |
| 4.3.2 SEM微观形貌分析 | 第35-36页 |
| 4.3.3 样品的霍尔测试 | 第36-37页 |
| 4.4 样品的热电性能 | 第37-42页 |
| 4.4.1 电阻率和Seebeck系数 | 第37-39页 |
| 4.4.2 热导率 | 第39-41页 |
| 4.4.3 热电优值ZT | 第41-42页 |
| 4.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第5章 协同调控CdO的电学和热学性能 | 第43-52页 |
| 5.1 引言 | 第43页 |
| 5.2 样品制备 | 第43-44页 |
| 5.3 样品的XRD、SEM分析和霍尔测量 | 第44-46页 |
| 5.3.1 XRD晶体结构分析 | 第44页 |
| 5.3.2 SEM微观形貌分析 | 第44-45页 |
| 5.3.3 样品的霍尔测试 | 第45-46页 |
| 5.4 样品的热电性能 | 第46-52页 |
| 5.4.1 电阻率和Seebeck系数 | 第46-48页 |
| 5.4.2 热导率 | 第48-50页 |
| 5.4.3 热电优值ZT | 第50-52页 |
| 结束语 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 攻读硕士研究生期间发表的学术论文 | 第61页 |
