| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 论文的研究背景和意义 | 第10-11页 |
| 1.2 论文相关的研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 高压电缆终端在输电网中的应用 | 第11-13页 |
| 1.2.2 高压电缆及附件电场和温度场的研究进展 | 第13-14页 |
| 1.2.3 红外检测在电气设备故障诊断中的应用 | 第14-15页 |
| 1.3 本论文的主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第二章 电气设备热分析及瓷套式电缆终端红外数据统计 | 第17-26页 |
| 2.1 电气设备热分析及计算原理 | 第17-19页 |
| 2.1.1 热传导的导热原理 | 第17-18页 |
| 2.1.2 热对流和热辐射的导热微分方程 | 第18-19页 |
| 2.2 电气设备主要发热类型及热缺陷模式 | 第19-21页 |
| 2.2.1 电流致热型缺陷及其原因 | 第19-20页 |
| 2.2.2 电压致热型缺陷及其原因 | 第20-21页 |
| 2.3 瓷套式电缆终端表面温度特征及发热规律 | 第21-24页 |
| 2.3.1 红外检测瓷套式电缆终端表面单相及相间温差分布规律 | 第21-23页 |
| 2.3.2 瓷套式电缆终端红外检测的温差分布门槛 | 第23-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-26页 |
| 第三章 瓷套式电缆终端电-热场的有限元仿真分析 | 第26-44页 |
| 3.1 有限元法及ANSYS仿真软件简介 | 第26-27页 |
| 3.2 瓷套式电缆终端电-热场仿真的有限元模型 | 第27-32页 |
| 3.2.1 瓷套式电缆终端的结构简介 | 第27-28页 |
| 3.2.2 基于电-热耦合的终端温度场计算流程 | 第28-30页 |
| 3.2.3 瓷套式电缆终端的几何模型 | 第30-31页 |
| 3.2.4 瓷套式电缆终端有限元仿真模型 | 第31-32页 |
| 3.3 瓷套式电缆终端发热的简化等效计算 | 第32-35页 |
| 3.3.1 线芯铜导体焦耳热的简化计算 | 第33页 |
| 3.3.2 绝缘介质损耗内热源的等效计算 | 第33-35页 |
| 3.4 瓷套式电缆终端的电场和温度场仿真研究 | 第35-43页 |
| 3.4.1 终端在不同状态下的电场分布 | 第35-39页 |
| 3.4.2 终端在不同状态下温度场分布的对比分析 | 第39-43页 |
| 3.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第四章 瓷套式电缆终端进水缺陷的红外检测及试验研究 | 第44-53页 |
| 4.1 试验基本情况介绍 | 第44-47页 |
| 4.1.1 试验背景及目的 | 第44-45页 |
| 4.1.2 主要试验设备及现场布置 | 第45-47页 |
| 4.2 瓷套式电缆终端不同进水量时的状态检测试验 | 第47-49页 |
| 4.3 瓷套式电缆终端模拟进水缺陷的试验结果分析 | 第49-52页 |
| 4.3.1 绝缘的介质损耗对终端发热的影响 | 第49-50页 |
| 4.3.2 瓷套式电缆终端进水缺陷的温升过程 | 第50-51页 |
| 4.3.3 瓷套式电缆终端进水缺陷的发热规律 | 第51-52页 |
| 4.4 本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 瓷套式电缆终端红外图像的边缘检测 | 第53-61页 |
| 5.1 红外热像仪测温原理及图像特征 | 第53-54页 |
| 5.2 经典Sobel算子以及八方向Sobel算子边缘检测方法 | 第54-55页 |
| 5.3 改进Sobel算子自适应最佳阈值的估计 | 第55-57页 |
| 5.4 改进算法用于瓷套式电缆终端红外图像的边缘检测 | 第57-60页 |
| 5.4.1 瓷套式电缆终端红外图像的边缘检测实例 | 第57-58页 |
| 5.4.2 红外图像边缘检测结果分析 | 第58-60页 |
| 5.5 本章小结 | 第60-61页 |
| 结论 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 附件 | 第70页 |
