EMCCD成像性能参数测试方法研究
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
1 绪论 | 第7-13页 |
1.1 微光成像器件的发展 | 第7-11页 |
1.1.1 ICCD的发展和现状 | 第7-9页 |
1.1.2 EBCCD的发展和现状 | 第9页 |
1.1.3 EMCCD的发展和现状 | 第9-11页 |
1.2 本文的研究背景以及研究意义 | 第11页 |
1.3 本文所开展的主要工作 | 第11-13页 |
2 EMCCD工作原理及所测参数 | 第13-24页 |
2.1 EMCCD工作原理 | 第13-14页 |
2.2 EMCCD噪声参数 | 第14-20页 |
2.2.1 读出噪声 | 第14-15页 |
2.2.2 暗电流 | 第15-17页 |
2.2.3 噪声因子 | 第17-18页 |
2.2.4 时钟感生电荷噪声 | 第18-19页 |
2.2.5 光子散粒噪声 | 第19页 |
2.2.6 EMCCD噪声模型 | 第19-20页 |
2.3 EMCCD其他性能参数 | 第20-24页 |
2.3.1 非均匀性 | 第20-21页 |
2.3.2 满阱容量和动态范围 | 第21-24页 |
3 测试系统 | 第24-31页 |
3.1 待测相机 | 第24-25页 |
3.2 光源 | 第25-27页 |
3.2.1 微光环境的光谱特性 | 第25-26页 |
3.2.2 微光环境的照度特性 | 第26页 |
3.2.3 光源的选择 | 第26-27页 |
3.3 光源调制系统 | 第27-29页 |
3.3.1 积分球 | 第27-28页 |
3.3.2 滤光片组 | 第28-29页 |
3.4 照度计 | 第29-30页 |
3.5 系统流程 | 第30-31页 |
4 EMCCD成像性能参数测试 | 第31-44页 |
4.1 三种定标帧 | 第31-33页 |
4.1.1 本底 | 第31-32页 |
4.1.2 暗场 | 第32-33页 |
4.1.3 平场 | 第33页 |
4.2 测试方案、实验及结果分析 | 第33-44页 |
4.2.1 读出噪声 | 第33-34页 |
4.2.2 暗电流 | 第34-37页 |
4.2.3 噪声因子 | 第37-40页 |
4.2.4 时钟感生电荷噪声 | 第40-41页 |
4.2.5 非均匀性 | 第41-42页 |
4.2.6 满阱容量和动态范围 | 第42-44页 |
5 测试结果的不确定度分析 | 第44-54页 |
5.1 测量不确定度的定义和评定方法 | 第44-48页 |
5.1.1 标准不确定度 | 第45-47页 |
5.1.2 合成标准不确定度 | 第47页 |
5.1.3 扩展不确定度 | 第47-48页 |
5.2 暗电流的不确定分析 | 第48-50页 |
5.2.1 不确定度来源分析 | 第48页 |
5.2.2 不确定度评定 | 第48-50页 |
5.3 非均匀性的不确定分析 | 第50-53页 |
5.3.1 不确定度来源分析 | 第50-51页 |
5.3.2 不确定度评定 | 第51-53页 |
5.4 不确定度结果分析 | 第53-54页 |
6 总结 | 第54-55页 |
致谢 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-60页 |
附录 | 第60页 |