| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第14-19页 |
| 1.1 引言 | 第14-15页 |
| 1.2 eMMC的研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3 本文研究内容和意义 | 第16-17页 |
| 1.4 本文组织结构 | 第17-19页 |
| 第二章 eMMC介绍 | 第19-34页 |
| 2.1 eMMC存储系统概况 | 第19页 |
| 2.2 eMMC的分区管理 | 第19-21页 |
| 2.3 eMMC存储控制器的内部固件机制 | 第21-26页 |
| 2.3.1 坏块管理 | 第21-22页 |
| 2.3.2 eMMC的纠错机制 | 第22-23页 |
| 2.3.3 循环冗余校验码(CRC) | 第23-24页 |
| 2.3.4 擦写均衡(wear leveling) | 第24-25页 |
| 2.3.5 Read Retry | 第25-26页 |
| 2.4 Nand Flash存储器 | 第26-34页 |
| 2.4.1 Nand Flash的基本单元结构 | 第26-27页 |
| 2.4.2 Nand Flash的存储实现技术 | 第27-28页 |
| 2.4.3 Nand Flash的基本操作机制及功能失效 | 第28-34页 |
| 第三章 硬件系统级eMMC失效分析研究及优化 | 第34-45页 |
| 3.1 硬件系统级失效定位的方法 | 第34-36页 |
| 3.1.1 系统日志分析 | 第34-35页 |
| 3.1.2 逻辑分析仪分析时序 | 第35-36页 |
| 3.1.3 示波器波形分析 | 第36页 |
| 3.1.4 交叉验证 | 第36页 |
| 3.2 硬件系统上电异常导致eMMC失效分析及优化 | 第36-45页 |
| 3.2.1 时序检测及信号分析 | 第37-39页 |
| 3.2.2 上电异常及导致eMMC失效的原因分析 | 第39-43页 |
| 3.2.3 优化规避失效的方法 | 第43-45页 |
| 第四章 Nand Flash存储器损伤导致eMMC失效分析 | 第45-54页 |
| 4.1 eMMC器件单体失效分析方法 | 第45-47页 |
| 4.1.1 I/V测试 | 第45-46页 |
| 4.1.2 固件(Firmware)分析 | 第46-47页 |
| 4.1.3 Nand falsh存储器分析 | 第47页 |
| 4.2 Nand Flash存储器损伤失效 | 第47-49页 |
| 4.3 Nand Flash损伤导致eMMC失效分析 | 第49-54页 |
| 4.3.1 失效定位 | 第50-51页 |
| 4.3.2 eMMC单体失效分析 | 第51-54页 |
| 第五章 Nand Flash接口速率异常失效分析及筛选方法优化 | 第54-66页 |
| 5.1 失效模式分析 | 第55-62页 |
| 5.1.1 Boot data start timeout | 第55-57页 |
| 5.1.2 eMMC识别模式中枚举失败 | 第57-60页 |
| 5.1.3 Metadata corruption | 第60-62页 |
| 5.2 失效原因分析 | 第62-64页 |
| 5.3 接口速率异常器件测试筛选方法优化 | 第64-66页 |
| 第六章 总结和展望 | 第66-70页 |
| 6.1 总结 | 第66-67页 |
| 6.2 展望 | 第67-70页 |
| 参考文献 | 第70-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 硕士期间发表学术论文 | 第76页 |
