X射线安检系统满度快速校正算法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 论文研究内容及目标 | 第11-12页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第12-13页 |
| 第二章 X射线系统及成像原理 | 第13-23页 |
| 2.1 X射线理论介绍 | 第13-16页 |
| 2.1.1 X射线的产生原理及能谱特性 | 第13-14页 |
| 2.1.2 X射线光子与物质的相互作用 | 第14-15页 |
| 2.1.3 X射线的衰减 | 第15-16页 |
| 2.2 X射线安检系统结构 | 第16-17页 |
| 2.2.1 安检系统与数据采集 | 第16页 |
| 2.2.2 X射线探测器 | 第16-17页 |
| 2.3 满度与安检图像 | 第17-21页 |
| 2.3.1 安检系统成像原理 | 第18-19页 |
| 2.3.2 物质属性计算方法 | 第19-20页 |
| 2.3.3 物质等效原子序数 | 第20-21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 基于噪声性质的满度信号划分方法 | 第23-41页 |
| 3.1 信号波动因素分析 | 第23-25页 |
| 3.2 模糊理论及隶属度函数 | 第25-28页 |
| 3.3 基于噪声分布的隶属度函数确定 | 第28-35页 |
| 3.3.1 系统噪声来源分析 | 第28-29页 |
| 3.3.2 系统噪声分布研究 | 第29-33页 |
| 3.3.3 探测点隶属度函数 | 第33-35页 |
| 3.4 分块联合隶属度计算 | 第35-38页 |
| 3.4.1 联合概率分布 | 第35-36页 |
| 3.4.2 探测点分块检测 | 第36-37页 |
| 3.4.3 探测点分块个数 | 第37-38页 |
| 3.5 实验结果与分析 | 第38-40页 |
| 3.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 基于滑动平均背景模型的满度校正算法 | 第41-57页 |
| 4.1 常用更新算法与背景模型 | 第41-44页 |
| 4.2 基于滑动平均背景模型满度校正算法 | 第44-46页 |
| 4.2.1 满度的初始化 | 第44页 |
| 4.2.2 满度的更新 | 第44-46页 |
| 4.3 满度更新权值的改进 | 第46-47页 |
| 4.4 实验结果与分析 | 第47-55页 |
| 4.4.1 仿真验证 | 第48-50页 |
| 4.4.2 包裹检测 | 第50-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 5.1 总结 | 第57页 |
| 5.2 展望 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第63页 |
