| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一节 引言及主要结果 | 第8-11页 |
| 1.1 研究的问题及背景 | 第8-9页 |
| 1.2 本文的主要结果及结构 | 第9-10页 |
| 1.3 本文的主要记号 | 第10-11页 |
| 第二节 收缩方法 | 第11-14页 |
| 2.1 惩罚最小二乘方法 | 第11-13页 |
| 2.2 正则参数选取准则 | 第13-14页 |
| 第三节 仿真研究 | 第14-29页 |
| 3.1 在给定水平下进行分析 | 第14-22页 |
| 3.1.1 以AEIR为指标进行分析 | 第14-17页 |
| 3.1.2 以POWER为指标进行分析 | 第17-19页 |
| 3.1.3 以TOER为指标进行分析 | 第19-21页 |
| 3.1.4 总结性分析 | 第21-22页 |
| 3.2 在整体水平下进行分析 | 第22-29页 |
| 3.2.1 通过整体平均水平进行分析 | 第23-25页 |
| 3.2.2 通过整体离散水平进行分析 | 第25-29页 |
| 第四节 结论与展望 | 第29-30页 |
| 参考文献 | 第30-33页 |
| 附录 | 第33-53页 |
| 致谢 | 第53页 |