摘要 | 第3-4页 |
英文摘要 | 第4-5页 |
第一章 绪论 | 第7-17页 |
1.1 超导概述 | 第7-10页 |
1.1.1 超导特性概述 | 第7页 |
1.1.2 超导材料发展 | 第7-8页 |
1.1.3 超导理论概述 | 第8-10页 |
1.2 高温超导薄膜及表面阻抗 | 第10-12页 |
1.2.1 高温超导薄膜简介 | 第10页 |
1.2.2 表面阻抗的产生 | 第10-11页 |
1.2.3 有效表面阻抗与本征表面阻抗 | 第11-12页 |
1.3 表面阻抗的测量方法简介 | 第12-15页 |
1.4 本论文每章节的主要内容 | 第15-17页 |
第二章 高温超导薄膜本征阻抗测量原理 | 第17-28页 |
2.1 介质谐振器的机理 | 第17-18页 |
2.2 品质因数与几何因子 | 第18-21页 |
2.2.1 介质谐振器的品质因数Q | 第18-19页 |
2.2.2 几何因子的计算 | 第19-20页 |
2.2.3 无载品质因数Q_U与负载品质因数Q_L | 第20-21页 |
2.3 表面阻抗的计算 | 第21-28页 |
2.3.1 有效表面电阻和损耗角正切的计算 | 第21-22页 |
2.3.2 有效表面阻抗与本征阻抗的关系 | 第22-25页 |
2.3.3 穿透深度的计算 | 第25-26页 |
2.3.4 本征阻抗的计算 | 第26-28页 |
第三章 超导薄膜本征阻抗测量系统 | 第28-40页 |
3.1 概述 | 第28页 |
3.2 谐振腔悬置测量装置 | 第28-38页 |
3.2.1 谐振腔部分 | 第30-34页 |
3.2.2 空隙调节结构 | 第34-36页 |
3.2.3 导热连接 | 第36页 |
3.2.4 制冷机结构及热损耗 | 第36-38页 |
3.3 温度控制设备 | 第38-40页 |
第四章 仿真与测试数据分析 | 第40-48页 |
4.1 仿真 | 第40-43页 |
4.2 铜屏蔽腔测试 | 第43-45页 |
4.3 YBCO超导薄膜测试 | 第45-47页 |
4.4 测试结果分析与小结 | 第47-48页 |
第五章 总结与展望 | 第48-49页 |
参考文献 | 第49-52页 |
攻读硕士期间研究成果 | 第52-53页 |
致谢 | 第53-54页 |