| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 序言 | 第9-13页 |
| 1 引言 | 第13-17页 |
| 1.1 课题背景与研究意义 | 第13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.3 论文的设计指标 | 第14页 |
| 1.4 论文的主要工作 | 第14-15页 |
| 1.5 研究内容与章节安排 | 第15-17页 |
| 2 验证技术和验证方法 | 第17-29页 |
| 2.1 常用的验证技术 | 第17-19页 |
| 2.1.1 动态验证 | 第17-18页 |
| 2.1.2 静态验证 | 第18-19页 |
| 2.2 功能验证流程 | 第19-20页 |
| 2.3 验证方法及原理 | 第20-28页 |
| 2.3.1 SystemVerilog语言简介 | 第20-22页 |
| 2.3.2 随机化验证 | 第22-23页 |
| 2.3.3 覆盖率驱动验证 | 第23-26页 |
| 2.3.4 基于断言的验证 | 第26-27页 |
| 2.3.5 Synopsys VCS 工具简介 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 3 EBIU结构和工作原理 | 第29-49页 |
| 3.1 EBIU简介 | 第29-36页 |
| 3.1.1 EBIU结构功能 | 第29-30页 |
| 3.1.2 EBIU模块接口 | 第30-34页 |
| 3.1.3 外部地址映射 | 第34-35页 |
| 3.1.4 错误检查机制 | 第35页 |
| 3.1.5 总线请求与许可 | 第35-36页 |
| 3.2 AHB总线协议 | 第36-42页 |
| 3.2.1 AHB总线的结构 | 第36-39页 |
| 3.2.2 AHB总线的基本信号 | 第39-41页 |
| 3.2.3 AHB总线数据传输 | 第41-42页 |
| 3.3 常用存储器简介 | 第42-47页 |
| 3.3.1 SRAM | 第42-44页 |
| 3.3.2 SDRAM | 第44-47页 |
| 3.4 本章小节 | 第47-49页 |
| 4 EBIU模块的功能验证 | 第49-63页 |
| 4.1 验证功能点提取 | 第49-52页 |
| 4.2 VCS仿真脚本的编写 | 第52-53页 |
| 4.3 验证平台结构 | 第53-56页 |
| 4.3.1 传统的验证平台结构 | 第53-54页 |
| 4.3.2 高效率层次化的验证平台结构 | 第54-56页 |
| 4.4 关键验证技术与验证步骤 | 第56-61页 |
| 4.4.1 约束随机化激励生成 | 第56-57页 |
| 4.4.2 功能覆盖率模型建立 | 第57-58页 |
| 4.4.3 断言的使用 | 第58-59页 |
| 4.4.4 数据的自动比对 | 第59-60页 |
| 4.4.5 验证步骤与实现 | 第60-61页 |
| 4.5 本章小结 | 第61-63页 |
| 5 仿真结果分析 | 第63-79页 |
| 5.1 EBIU基本功能测试 | 第63-69页 |
| 5.1.1 寄存器读写访问测试 | 第63页 |
| 5.1.2 SRAM读写访问测试 | 第63-65页 |
| 5.1.3 SDRAM读写访问测试 | 第65-66页 |
| 5.1.4 SDRAM Self-Refreash(自刷新)测试 | 第66-67页 |
| 5.1.5 从机响应测试 | 第67-68页 |
| 5.1.6 总线访问与许可测试 | 第68-69页 |
| 5.2 功能覆盖率报告分析 | 第69-70页 |
| 5.3 代码覆盖率报告分析 | 第70-76页 |
| 5.4 断言覆盖率报告分析 | 第76-78页 |
| 5.5 本章小结 | 第78-79页 |
| 6 结论 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |
| 作者简历 | 第83-87页 |
| 学位论文数据集 | 第87页 |