| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 1 引言 | 第11-17页 |
| 1.1 光斑检测技术研究背景和意义 | 第11-12页 |
| 1.2 光斑检测技术 | 第12-16页 |
| 1.2.1 光斑检测技术基本实现方法 | 第12-13页 |
| 1.2.2 光斑检测技术的应用与发展 | 第13-16页 |
| 1.3 文章主要研究内容及结构 | 第16-17页 |
| 2 基于多模干涉理论的光斑检测理论基础 | 第17-32页 |
| 2.1 光斑检测的电磁场理论 | 第17-22页 |
| 2.1.1 模式耦合理论 | 第17-18页 |
| 2.1.2 多模光纤干涉原理 | 第18-20页 |
| 2.1.3 基于光斑强度变化的电磁场分析 | 第20-22页 |
| 2.2 光斑图样处理算法 | 第22-28页 |
| 2.2.1 基于光强算法 | 第23-26页 |
| 2.2.2 基于图像内容的算法 | 第26-28页 |
| 2.3 基于光斑检测的新型结构 | 第28-30页 |
| 2.3.1 S-M偏芯熔接 | 第28-29页 |
| 2.3.2 D型光纤 | 第29-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-32页 |
| 3 多模光纤光斑检测的应用—模式分析 | 第32-49页 |
| 3.1 模式分析方法 | 第32-33页 |
| 3.2 偏芯熔接对多模光纤模式激励情况的理论和仿真分析 | 第33-36页 |
| 3.3 利用灰度共生矩阵分析光斑特征 | 第36-46页 |
| 3.3.1 灰度共生矩阵 | 第36-39页 |
| 3.3.2 基于不同偏移熔接的仿真 | 第39-41页 |
| 3.3.3 灰度共生矩阵参数选取 | 第41-42页 |
| 3.3.4 仿真验证 | 第42-45页 |
| 3.3.5 实验验证 | 第45-46页 |
| 3.4 D型光纤模式分析 | 第46-48页 |
| 3.5 本章小结 | 第48-49页 |
| 4 多模光纤光斑检测的应用-多模光纤光斑光谱分析的改进 | 第49-66页 |
| 4.1 多模光纤光斑光谱分析 | 第49-50页 |
| 4.1.1 多模光纤光斑光谱分析原理 | 第49页 |
| 4.1.2 光谱相关宽度 | 第49-50页 |
| 4.2 对多模光纤光斑光谱分析的改进 | 第50-65页 |
| 4.2.1 利用偏移熔接对光谱分析性能的改进 | 第50-60页 |
| 4.2.2 利用D型光纤对光谱分析性能的改进 | 第60-65页 |
| 4.3 本章小结 | 第65-66页 |
| 5 结论 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-71页 |
| 索引 | 第71-73页 |
| 作者简历 | 第73-74页 |
| 学位论文数据集 | 第74页 |