基于自主标准的RFID标签性能测试方法研究与实现

【摘要】：射频识别(Radio Frequency Identification,RFID)技术是一种通过无线射频方式实现双向数据通信的非接触式自动识别技术。在RFID技术中,无源RFID以其识别速度快、数据存储容量大和高可靠性等独特优势而被广泛应用于物资全资可视、物流供应链管理、资产管理、交通运输管理、贵重商品防伪防盗、自动化工业生产及人员管理等领域。无源RFID标签是无源RFID系统的核心,低功耗低成本超大规模集成电路的迅速发展,大大降低了无源RFID标签的能耗要求和价格,使得无源RFID系统得以快速发展。随着无源RFID系统的大规模应用,人们对无源RFID标签性能也有了更高的要求,使得标签性能测试的重要性突显出来。论文基于《GJB7377.1-2011军用射频识别空中接口第1部分:800/900MHz参数》这一自主RFID标准,结合ISO/IEC18046-3和EPC C1G2两大标签性能测试标准,对标签性能的测试方法展开研究。从雷达散射原理出发,分析了超高频无源RFID系统的基本工作原理,研究了RFID系统中的电磁能量传输和反向散射调制技术。标签芯片作为标签的核心部件,其性能的优劣直接决定了标签性能的高低,因此对标签芯片性能的测试非常有意义,论文分析了标签芯片对标签性能的影响,提出了一种新颖的标签芯片灵敏度测试方法。论文根据标签的实际应用情况,合理提出了标签读写距离、方向性、抗干扰能力等关键测试项,并制定了相应的测试方法。基于RFID协议仿真器、矢量信号发生器、实时频谱分析仪、射频功率计等通用仪器搭建了标签性能测试系统,完成了标签性能的测试和分析。改进了标签芯片灵敏度测试和标签读写距离测试的方法。
【关键词】：超高频 射频识别 标签芯片性能测试 标签性能测试
【学位级别】：硕士
【学位授予年份】：2014
【分类号】：TP391.44