| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
| ·数据存储系统研究现状 | 第12-15页 |
| ·国外研究现状 | 第12-14页 |
| ·国内研究现状 | 第14-15页 |
| ·光学遥感相机高速大容量存储系统发展趋势 | 第15-17页 |
| ·数据存储介质 | 第15-16页 |
| ·存储容量 | 第16页 |
| ·数据可靠性措施 | 第16-17页 |
| ·论文主要内容与章节安排 | 第17-19页 |
| 第2章 光学遥感相机存储系统方案设计 | 第19-37页 |
| ·存储系统技术指标要求 | 第19页 |
| ·主要芯片选型 | 第19-23页 |
| ·基本存储芯片选型 | 第19-21页 |
| ·主控制芯片选型 | 第21-22页 |
| ·电源芯片选型与介绍 | 第22-23页 |
| ·主要芯片介绍 | 第23-29页 |
| ·存储芯片介绍 | 第23-28页 |
| ·主控芯片介绍 | 第28-29页 |
| ·系统总体方案设计 | 第29-34页 |
| ·存储系统总体结构设计 | 第29-30页 |
| ·Flash阵列高速存储关键技术 | 第30-34页 |
| ·NAND Flash功耗估计及电源配置设计 | 第34页 |
| ·本章小结 | 第34-37页 |
| 第3章 NAND Flash高速大容量数据存储模块设计 | 第37-51页 |
| ·总体结构设计 | 第37-40页 |
| ·数据缓存模块 | 第38-39页 |
| ·并行操作逻辑控制 | 第39页 |
| ·流水线操作逻辑控制 | 第39-40页 |
| ·NAND Flash坏块管理模块 | 第40-43页 |
| ·坏块列表的建立 | 第41-42页 |
| ·坏块列表的更新 | 第42-43页 |
| ·Flash阵列控制状态机 | 第43-47页 |
| ·控制器整体结构设计 | 第44页 |
| ·复位并配置Flash | 第44-45页 |
| ·页读操作 | 第45-46页 |
| ·页编程 | 第46页 |
| ·块擦除操作 | 第46-47页 |
| ·存储模块仿真调试 | 第47-49页 |
| ·复位配置、编程、读取及擦除时序功能仿真调试 | 第47-49页 |
| ·并行及流水线操作的Flash阵列编程系统仿真 | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第4章 数据存储系统可靠性设计 | 第51-69页 |
| ·纠错码分类与介绍 | 第51-52页 |
| ·BCH码介绍及参数设计 | 第52-53页 |
| ·BCH码简介 | 第52页 |
| ·BCH码参数设计 | 第52-53页 |
| ·BCH编码设计 | 第53-56页 |
| ·矩阵相乘编码 | 第53页 |
| ·串行编码 | 第53-55页 |
| ·并行编码 | 第55-56页 |
| ·BCH译码设计 | 第56-61页 |
| ·计算伴随式 | 第56-57页 |
| ·计算错误位置多项式 | 第57-59页 |
| ·错误位置的纠正 | 第59-61页 |
| ·BCH编解码仿真调试 | 第61-67页 |
| ·编码器接口设计 | 第61-62页 |
| ·编码器仿真调试 | 第62页 |
| ·译码器接口设计 | 第62-63页 |
| ·译码器仿真调试 | 第63-67页 |
| ·本章小结 | 第67-69页 |
| 第5章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 在学期间学术成果情况 | 第75-76页 |
| 指导教师及作者简介 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77页 |