| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 前言 | 第9-13页 |
| ·引言 | 第9-10页 |
| ·本文的研究目的及内容 | 第10-13页 |
| ·本文研究目的 | 第10-11页 |
| ·拟解决的关键问题 | 第11页 |
| ·创新点 | 第11-12页 |
| ·本文的研究内容 | 第12-13页 |
| 第二章 多晶硅铸锭研究现状 | 第13-25页 |
| ·多晶硅铸造工艺现状 | 第13-19页 |
| ·铸造多晶硅的不同方法 | 第13-16页 |
| ·定向凝固铸造多晶硅简介 | 第16-19页 |
| ·铸造多晶硅中存在的问题 | 第19-25页 |
| ·杂质对多晶硅少子寿命的影响 | 第19-22页 |
| ·缺陷对多晶硅少子寿命的影响 | 第22-25页 |
| 第三章 试验方法和仪器设备 | 第25-29页 |
| ·试验方法 | 第25-27页 |
| ·仪器设备 | 第27-29页 |
| ·WT-2000 少子寿命测试仪 | 第27-28页 |
| ·PLI-20D PL 测试仪 | 第28-29页 |
| 第四章 无籽晶工艺铸造多晶硅定向生长过程研究 | 第29-38页 |
| ·引言 | 第29-33页 |
| ·多晶硅少子寿命分析 | 第33-35页 |
| ·生长初期少子寿命研究 | 第35-38页 |
| 第五章 有籽晶工艺铸造多晶硅研究 | 第38-57页 |
| ·引言 | 第38-39页 |
| ·底部籽晶对整锭少子寿命影响分析 | 第39-44页 |
| ·籽晶对多晶硅硅锭整体质量的影响 | 第40-43页 |
| ·长晶初期硅锭底部少子寿命分析 | 第43-44页 |
| ·无籽晶工艺与有籽晶工艺对铸造多晶硅的影响对比分析 | 第44-49页 |
| ·籽晶对铸造多晶硅长晶初期少子寿命影响 | 第44-47页 |
| ·籽晶对铸造多晶硅均匀性的影响 | 第47-49页 |
| ·无籽晶工艺和有籽晶工艺硅片对比 | 第49-53页 |
| ·硅片平均少子寿命值对比 | 第50页 |
| ·硅片位错密度对比 | 第50-51页 |
| ·晶粒尺寸的变化 | 第51-53页 |
| ·多晶硅太阳电池光电转换效率对比分析 | 第53-55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 第六章 总结与展望 | 第57-59页 |
| ·全文总结 | 第57-58页 |
| ·今后研究工作的展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 攻读硕士学位期间参加科研情况 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |