| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-22页 |
| ·层状化合物 | 第9页 |
| ·层状化合物介绍 | 第9页 |
| ·层状化合物的分类 | 第9页 |
| ·钙钛矿型层状化合物 | 第9-11页 |
| ·稀土元素掺杂层状钙钛矿结构化合物 | 第11-12页 |
| ·钙钛矿层状化合物纳米片 | 第12-14页 |
| ·薄膜材料 | 第14-21页 |
| ·薄膜材料应用 | 第14页 |
| ·薄膜组装方法 | 第14-17页 |
| ·薄膜厚度测量技术 | 第17-21页 |
| ·研究思路 | 第21-22页 |
| 第2章 Eu_xSrBi_(2-x)Ta_2O_9发光纳米片的制备及性能表征 | 第22-36页 |
| ·引言 | 第22页 |
| ·实验部分 | 第22-25页 |
| ·实验原料与实验仪器 | 第22-23页 |
| ·实验过程 | 第23-24页 |
| ·结构表征 | 第24-25页 |
| ·结果与讨论 | 第25-35页 |
| ·X 射线衍射(XRD)分析 | 第25-27页 |
| ·扫面电镜(SEM)和能谱(EDS)分析 | 第27-30页 |
| ·纳米溶胶稳定性分析 | 第30-31页 |
| ·纳米片形貌分析 | 第31-32页 |
| ·荧光性能分析 | 第32-34页 |
| ·纳米薄膜自组装及表征 | 第34-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 第3章 Nb_3O_8、TiO_2复合纳米片薄膜组装及自清洁性能研究 | 第36-49页 |
| ·引言 | 第36页 |
| ·实验部分 | 第36-38页 |
| ·实验原料及实验仪器 | 第36-37页 |
| ·实验过程 | 第37-38页 |
| ·结果与讨论 | 第38-48页 |
| ·X 射线衍射(XRD)分析 | 第38-39页 |
| ·纳米溶胶稳定性分析 | 第39-41页 |
| ·纳米片的形貌分析 | 第41-42页 |
| ·自清洁玻璃薄膜设计及表征 | 第42-48页 |
| ·小结 | 第48-49页 |
| 第4章 TiNbO_5、TiTaO_5纳米片制备、薄膜组装及性能研究 | 第49-61页 |
| ·引言 | 第49页 |
| ·实验内容 | 第49-51页 |
| ·实验原料与实验仪器 | 第49-50页 |
| ·实验过程 | 第50-51页 |
| ·结果与讨论 | 第51-60页 |
| ·XRD 分析 | 第51-53页 |
| ·扫描电镜分析 | 第53页 |
| ·纳米溶胶稳定性分析 | 第53-55页 |
| ·纳米片的形貌和结构分析 | 第55页 |
| ·发光薄膜的组装以及性能研究 | 第55-57页 |
| ·EPD 方法组装薄膜及性能表征 | 第57-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 第5章 薄膜厚度测量技术标准化 | 第61-75页 |
| ·引言 | 第61-62页 |
| ·实验部分 | 第62-63页 |
| ·实验流程设计 | 第62页 |
| ·主要试验设备 | 第62页 |
| ·试验材料 | 第62-63页 |
| ·实验内容 | 第63页 |
| ·结果与讨论 | 第63-74页 |
| ·低碳钢镀锌 | 第63-66页 |
| ·低碳钢镀镍 | 第66-68页 |
| ·中碳钢镀锌 | 第68-70页 |
| ·中碳钢上镀镍薄膜测量 | 第70-72页 |
| ·陶瓷样品测量 | 第72-73页 |
| ·双层样品厚度测量 | 第73-74页 |
| ·小结 | 第74-75页 |
| 第6章 结论 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-81页 |
| 致谢 | 第81-82页 |
| 攻读学位期间所开展的科研项目和发表的学术论文 | 第82页 |
