基于ARM的零件表面粗糙度测量系统设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第10-11页 |
| ·粗糙度测量技术的国内外研究现状分析 | 第11-15页 |
| ·表面粗糙度测量方法分析 | 第11-13页 |
| ·滤波方式的发展 | 第13-14页 |
| ·粗糙度测量仪处理器发展分析 | 第14-15页 |
| ·主要研究内容 | 第15-16页 |
| 第2章 表面粗糙度测量系统组成 | 第16-27页 |
| ·粗糙度测量概述 | 第16-18页 |
| ·基本概念 | 第16页 |
| ·粗糙度测量仪的工作原理 | 第16-17页 |
| ·粗糙度评定的几个参数分析 | 第17-18页 |
| ·粗糙度测量系统硬件设计 | 第18-26页 |
| ·传感器模块 | 第18-20页 |
| ·信号滤波电路 | 第20-21页 |
| ·信号放大电路 | 第21-22页 |
| ·数据采集模块 | 第22-23页 |
| ·处理器单元 | 第23-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 数字滤波算法和软件设计 | 第27-42页 |
| ·滤波分析 | 第27-33页 |
| ·高斯滤波器和高斯函数简介 | 第27-28页 |
| ·滤波器种类 | 第28-29页 |
| ·中心极限定理 | 第29-30页 |
| ·高斯滤波中线的建立 | 第30-33页 |
| ·系统开发分析 | 第33页 |
| ·Linux 系统开发环境的搭建 | 第33-36页 |
| ·安装虚拟机 | 第33-34页 |
| ·安装交叉编译工具链 | 第34页 |
| ·Bootloader 的移植与配置 | 第34-36页 |
| ·嵌入式 Linux 内核的配置与移植 | 第36-38页 |
| ·相关驱动程序的设计 | 第38-41页 |
| ·驱动设计分析 | 第38-39页 |
| ·ADC 驱动开发流程 | 第39-40页 |
| ·驱动程序加载 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 系统性能测试和误差分析 | 第42-50页 |
| ·系统性能测试 | 第42-46页 |
| ·硬件调试 | 第42-43页 |
| ·软件调试 | 第43-44页 |
| ·仪器调试 | 第44-46页 |
| ·仪器性能的检验 | 第46-48页 |
| ·测量残余轮廓示值误差 | 第46页 |
| ·测量示值重复性 | 第46-47页 |
| ·示值稳定性的检验 | 第47页 |
| ·表面粗糙度的测量 | 第47-48页 |
| ·误差来源和分析 | 第48-49页 |
| ·误差来源 | 第48页 |
| ·误差分析 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-55页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56页 |
