基于锁相环结构的频率综合器芯片电路设计
| 摘要 | 第1-7页 |
| Abstract | 第7-12页 |
| 目录 | 第12页 |
| 插图目录 | 第12-15页 |
| 表格目录 | 第15-16页 |
| 第1章 绪论 | 第16-22页 |
| ·研究背景 | 第16-18页 |
| ·研究现状 | 第18-19页 |
| ·本文贡献 | 第19-20页 |
| ·章节结构 | 第20-22页 |
| 第2章 锁相环型频率综合器概述 | 第22-42页 |
| ·锁相环的基本概念 | 第22-25页 |
| ·锁相环的环路特性 | 第25-31页 |
| ·一型锁相环 | 第25-28页 |
| ·二型锁相环 | 第28-31页 |
| ·锁相环的噪声特性 | 第31-35页 |
| ·相位噪声的定义 | 第31-33页 |
| ·相位噪声的影响 | 第33-34页 |
| ·锁相环的相位噪声 | 第34-35页 |
| ·电荷泵锁相环的非线性效应 | 第35-40页 |
| ·PFDCP的非理想效应 | 第36-39页 |
| ·分频器延时的影响 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第3章 低相噪VCO的设计 | 第42-76页 |
| ·VCO的分类与指标 | 第42-43页 |
| ·VCO的相位噪声 | 第43-53页 |
| ·相位噪声的模型 | 第43-46页 |
| ·相位噪声的优化 | 第46-53页 |
| ·改进型尾电流源及QVCO设计 | 第53-60页 |
| ·QVCO的电路设计 | 第53-56页 |
| ·QVCO的测试结果 | 第56-60页 |
| ·低电源电压下VCO的设计 | 第60-74页 |
| ·改进型B类VCO的相位噪声 | 第61-66页 |
| ·VCO的电路实现 | 第66-71页 |
| ·VCO的测试结果 | 第71-74页 |
| ·本章小结 | 第74-76页 |
| 第4章 双模预分频器的设计 | 第76-100页 |
| ·分频器的设计指标 | 第76-77页 |
| ·分频器的分类 | 第77-79页 |
| ·双模预分频器的设计 | 第79-99页 |
| ·传统结构预分频器设计 | 第79-87页 |
| ·相位开关结构预分频器设计 | 第87-99页 |
| ·本章小结 | 第99-100页 |
| 第5章 小数型锁相环的设计和实现 | 第100-122页 |
| ·IR_UWB锁相环的设计指标 | 第100-101页 |
| ·锁相环参数设计 | 第101-106页 |
| ·锁相环电路结构 | 第106-113页 |
| ·IR_UWB小数型锁相环整体框图 | 第107-108页 |
| ·电荷泵的设计 | 第108-110页 |
| ·Sigma-Delta调制器和PS计数器 | 第110-113页 |
| ·锁相环的芯片实现 | 第113-121页 |
| ·版图规划 | 第113-114页 |
| ·0.18μm小数锁相环的测试结果与分析 | 第114-117页 |
| ·0.13μm小数锁相环的测试结果与分析 | 第117-121页 |
| ·本章小结 | 第121-122页 |
| 第6章 总结与展望 | 第122-124页 |
| ·工作总结 | 第122-123页 |
| ·未来展望 | 第123-124页 |
| 参考文献 | 第124-132页 |
| 致谢 | 第132-134页 |
| 攻读博士学位期间的科研成果和研究经历 | 第134页 |
| 科研成果 | 第134页 |
| 研究经历 | 第134页 |
