| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·国内外研究现状 | 第8页 |
| ·论文的主要内容 | 第8-11页 |
| 第二章 特性阻抗及相关知识的基本概念 | 第11-21页 |
| ·传输线的基本概念 | 第11-14页 |
| ·传输线的物理模型 | 第11-12页 |
| ·传输线的特性参数 | 第12-14页 |
| ·特性阻抗的概念 | 第14-21页 |
| ·特性阻抗结构特点 | 第16页 |
| ·微带线与带状线 | 第16-18页 |
| ·趋肤效应和集束效应 | 第18-21页 |
| 第三章 特性阻抗测试的基本原理和方法 | 第21-49页 |
| ·TDR 测试的基本原理 | 第21-25页 |
| ·TDR 的分辨率问题 | 第25-31页 |
| ·TDR 分辨率的定义 | 第25-26页 |
| ·影响 TDR 设备分辨率的因素 | 第26-29页 |
| ·高分辨率 TDR 的探测探头是 TDR 的组成部分 | 第29-30页 |
| ·更高分辨率的 TDR 方案 | 第30-31页 |
| ·TDR 设备的精准度问题 | 第31-34页 |
| ·TDR 设备的校准问题 | 第34-38页 |
| ·Stored Reference 校准方法 | 第34页 |
| ·In Situ 校准方法 | 第34页 |
| ·IPC-TM-650-Stored Reference 方法校准步骤 | 第34-37页 |
| ·In Situ 校准方法的具体步骤 | 第37-38页 |
| ·利用 TDR 设备对 PCB 阻抗进行测量的操作步骤 | 第38-41页 |
| ·TDR 的仿真 | 第41-49页 |
| ·搭建仿真环境 | 第42-44页 |
| ·解读单边 TDR 仿真波形 | 第44-46页 |
| ·阻抗曲线的生成 | 第46-49页 |
| 第四章 TDR 测试与信号完整性设计的密切相关性 | 第49-57页 |
| ·高速信号和信号完整性的基本概述 | 第49-51页 |
| ·电子系统设正在面临的问题 | 第49页 |
| ·高速电路与高速信号的概念 | 第49-50页 |
| ·信号完整性的概念 | 第50-51页 |
| ·影响信号完整性的因素 | 第51-57页 |
| ·信号的反射 | 第51-52页 |
| ·信号的串扰 | 第52-54页 |
| ·电源完整性 | 第54-57页 |
| 第五章 总结和展望 | 第57-59页 |
| ·总结 | 第57页 |
| ·展望 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 在读期间研究成果 | 第63-64页 |
