可重构光分插复用器关键器件与技术的研究
摘要 | 第1-7页 |
ABSTRACT | 第7-14页 |
第一章 绪论 | 第14-21页 |
·研究背景和意义 | 第14-17页 |
·论文内容及结构安排 | 第17-19页 |
参考文献 | 第19-21页 |
第二章 可重构光分插复用器 | 第21-69页 |
·波分复用技术 | 第21-23页 |
·ROADM实现技术 | 第23-29页 |
·开关型ROADM | 第24-26页 |
·调谐型ROADM | 第26-29页 |
·平面光集成的ROADM | 第29-33页 |
·ROADM关键器件 | 第33-58页 |
·光开关 | 第34-39页 |
·光开关的种类 | 第34-35页 |
·光开关的材料 | 第35页 |
·波导型电光开关 | 第35-39页 |
·楔形越层波导 | 第39-42页 |
·半导体激光器 | 第42-49页 |
·半导体激光器的发展历史 | 第42-43页 |
·半导体激光器的分类 | 第43-44页 |
·半导体激光器的结构与工作原理 | 第44-49页 |
·光电探测器 | 第49-55页 |
·RCE探测器 | 第49-52页 |
·波导型探测器 | 第52-55页 |
·波分复用器 | 第55-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
参考文献 | 第59-69页 |
第三章 光开关理论分析与结构设计 | 第69-99页 |
·BPM方法介绍 | 第69-73页 |
·BPM基本原理 | 第70-71页 |
·旁轴近似 | 第71-72页 |
·透明边界条件 | 第72-73页 |
·MMI基本原理 | 第73-78页 |
·导模展开法分析 | 第74-76页 |
·成像位置与数量 | 第76-77页 |
·2×2多模干涉耦合器 | 第77-78页 |
·光开关调制机制 | 第78-83页 |
·能带填充效应 | 第79-82页 |
·自由载流子吸收 | 第82-83页 |
·光开关结构设计 | 第83-94页 |
·外延结构设计 | 第85-86页 |
·光开关端口设计 | 第86-91页 |
·多模干涉耦合器 | 第91-93页 |
·光开关性能模拟 | 第93-94页 |
·本章小结 | 第94-95页 |
参考文献 | 第95-99页 |
第四章 光开关实验研究 | 第99-113页 |
·光开关掩模版设计 | 第99-101页 |
·光开关外延结构生长 | 第101页 |
·光开关实验制备 | 第101-104页 |
·关键工艺研究 | 第104-107页 |
·光开关测试 | 第107-111页 |
·光纤与波导的对准耦合 | 第107-109页 |
·测试系统搭建 | 第109-110页 |
·测试结果以及分析 | 第110-111页 |
·本章小结 | 第111-112页 |
参考文献 | 第112-113页 |
第五章 楔形越层波导在集成中的应用 | 第113-125页 |
·波导与探测器的集成方式 | 第113-114页 |
·引入垂直楔形越层波导的PIN探测器模型 | 第114-115页 |
·楔形越层波导耦合性能 | 第115-119页 |
·楔形越层波导中的光场分布 | 第115-117页 |
·各参数对楔形越层波导耦合性能的影响 | 第117-119页 |
·材料折射率对耦合效率的影响 | 第118页 |
·楔形末端厚度对耦合效率的影响 | 第118-119页 |
·楔形波导长度对耦合效率的影响 | 第119页 |
·楔形波导的制备方法 | 第119-122页 |
·本章小结 | 第122-123页 |
参考文献 | 第123-125页 |
第六章 新型InP基半导体激光器研制 | 第125-139页 |
·InP基量子阱激光器制备工艺研究 | 第125-131页 |
·材料外延 | 第126-127页 |
·器件制备过程 | 第127-128页 |
·器件测试结果 | 第128-131页 |
·实验难点分析 | 第131-133页 |
·量子点激光器 | 第133-137页 |
·量子点制备技术 | 第133-135页 |
·结构设计 | 第135-137页 |
·本章小结 | 第137-138页 |
参考文献 | 第138-139页 |
致谢 | 第139-141页 |
攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第141页 |