基于BIST的嵌入式存储器可测性设计研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 1 引言 | 第10-21页 |
| ·集成电路测试的研究目的和意义 | 第10页 |
| ·模拟电路测试的研究现状 | 第10-13页 |
| ·数字电路测试的研究现状 | 第13-18页 |
| ·自动测试向量生成技术的发展 | 第14-15页 |
| ·可测试性设计技术的发展 | 第15-18页 |
| ·数模混合电路测试的研究现状 | 第18-20页 |
| ·本文的主要内容 | 第20-21页 |
| 2 嵌入式存储器测试方法研究 | 第21-43页 |
| ·嵌入式存储器测试意义 | 第21-22页 |
| ·嵌入式存储器的常见故障 | 第22-26页 |
| ·常用的嵌入式存储器测试方法 | 第26-35页 |
| ·存储器直接存取测试 | 第26-27页 |
| ·片上微处理器测试 | 第27-28页 |
| ·存储器内建自测试 | 第28-35页 |
| ·存储器测试算法研究 | 第35-43页 |
| ·伪随机测试算法 | 第35-37页 |
| ·存储器确定性测试算法 | 第37-39页 |
| ·March算法研究 | 第39-43页 |
| 3 EDA仿真工具研究 | 第43-51页 |
| ·EDA仿真平台选用 | 第43-44页 |
| ·FPGA/CPLD的设计流程 | 第44-47页 |
| ·系统设计描述语言的选用 | 第47-48页 |
| ·ModelSim在测试电路中的应用 | 第48-51页 |
| 4 存储器内建自测试的EDA实现 | 第51-67页 |
| ·存储器模型设计 | 第51-54页 |
| ·存储器内建自测试的设计 | 第54-62页 |
| ·伪随机数据产生器设计 | 第55-60页 |
| ·确定性算法—March C+设计 | 第60-62页 |
| ·存储器内建自测试仿真实现 | 第62-67页 |
| 5 结论 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-71页 |
| 作者简历 | 第71-73页 |
| 学位论文数据集 | 第73页 |
