| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-15页 |
| 第1章 绪论 | 第15-26页 |
| ·选题背景与研究意义 | 第15-16页 |
| ·污秽绝缘子的沿面放电机理 | 第16-18页 |
| ·亲水性表面的污秽放电 | 第16-18页 |
| ·憎水性表面的污秽放电 | 第18页 |
| ·污秽绝缘子表面放电检测技术的研究现状 | 第18-21页 |
| ·污秽绝缘子放电评估的研究现状 | 第21-23页 |
| ·绝缘子放电强度评估的研究现状 | 第21页 |
| ·绝缘子污秽状态评估的研究现状 | 第21-22页 |
| ·污秽绝缘子绝缘状态评估和闪络预警的研究现状 | 第22-23页 |
| ·绝缘子放电紫外成像检测及评估面临的主要问题 | 第23-24页 |
| ·论文的主要工作 | 第24-26页 |
| 第2章 污秽绝缘子放电紫外光辐射及检测系统 | 第26-44页 |
| ·引言 | 第26页 |
| ·放电的光辐射机理分析 | 第26-29页 |
| ·原子特征线辐射 | 第26-27页 |
| ·复合辐射 | 第27-28页 |
| ·韧致辐射 | 第28-29页 |
| ·放电光谱分布特征 | 第29-30页 |
| ·日盲紫外光辐射功率与放电功率之间的关系 | 第30-31页 |
| ·空气对紫外光信号的衰减作用 | 第31-32页 |
| ·日盲紫外成像检测系统 | 第32-36页 |
| ·紫外成像仪的工作原理 | 第33-34页 |
| ·紫外通道的成像原理 | 第34-35页 |
| ·CoroCAM504 紫外成像仪 | 第35-36页 |
| ·放电紫外成像量化参量选择及计算 | 第36-40页 |
| ·连续紫外图像帧的提取和图像预处理 | 第37-38页 |
| ·紫外图像的形态学滤波 | 第38-39页 |
| ·紫外图像面积参量的计算 | 第39页 |
| ·图像处理实例 | 第39-40页 |
| ·仪器增益对光斑面积的影响 | 第40-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第3章 放电紫外成像参量与电信号的相关性研究 | 第44-55页 |
| ·引言 | 第44页 |
| ·试验系统的接线和试验方法 | 第44-46页 |
| ·紫外图像对电信号脉冲的分辨特性 | 第46-50页 |
| ·放电时的电信号和对应的紫外图像 | 第46-49页 |
| ·大光斑面积帧数量与火花放电次数的关系 | 第49-50页 |
| ·光斑面积与电脉冲信号幅值的相关性 | 第50-54页 |
| ·放电时的电信号与对应紫外图像 | 第50-53页 |
| ·光斑面积与电脉冲幅值的关系曲线 | 第53-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第4章 基于紫外成像的复合绝缘子放电强度估计 | 第55-68页 |
| ·引言 | 第55页 |
| ·试验系统接线和试验方法 | 第55-56页 |
| ·观测距离对紫外图像大小的影响 | 第56-60页 |
| ·试验现象和变化规律 | 第56-58页 |
| ·试验结果的理论分析 | 第58-60页 |
| ·放电成像区域面积值的估计 | 第60-61页 |
| ·成像区域面积与放电强度关系 | 第61-62页 |
| ·基于最小二乘支持向量回归的放电强度估计 | 第62-66页 |
| ·最小二乘支持向量回归原理 | 第63-64页 |
| ·放电脉冲幅值估计回归模型的建立 | 第64-66页 |
| ·现场实际用 | 第66-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第5章 污秽瓷绝缘子放电的紫外成像特性 | 第68-82页 |
| ·引言 | 第68页 |
| ·试验装置与试验方法 | 第68-71页 |
| ·试验装置 | 第68-69页 |
| ·试验方法 | 第69-71页 |
| ·污秽瓷绝缘子放电的紫外成像特征 | 第71-77页 |
| ·不同湿度下污秽放电的紫外成像特征 | 第71-75页 |
| ·不同污秽等级绝缘子放电紫外成像特征 | 第75-77页 |
| ·表征污秽放电的紫外成像特征参数的选择及计算 | 第77-79页 |
| ·相对光斑面积参数 | 第77-78页 |
| ·紫外成像参数的选择及计算 | 第78-79页 |
| ·紫外成像参数与污秽和湿度关系曲面 | 第79-81页 |
| ·本章小结 | 第81-82页 |
| 第6章 基于模糊逻辑推理的绝缘子污秽状态评估 | 第82-95页 |
| ·引言 | 第82页 |
| ·模糊逻辑推理的基本理论 | 第82-86页 |
| ·模糊集合及其隶属度函数 | 第82-83页 |
| ·模糊规则与模糊逻辑推理 | 第83-85页 |
| ·解模糊 | 第85-86页 |
| ·绝缘子污秽状态推理模型的建立 | 第86-92页 |
| ·变量模糊子集的确定和隶属度函数 | 第86-90页 |
| ·模糊推理规则库的建立 | 第90-92页 |
| ·污秽评估模型的性能测试 | 第92-93页 |
| ·现场绝缘子的污秽状态评估 | 第93-94页 |
| ·本章小结 | 第94-95页 |
| 第7章 基于紫外成像的绝缘子绝缘状态评估和闪络预警 | 第95-104页 |
| ·引言 | 第95页 |
| ·污秽绝缘子的闪络试验方法 | 第95-96页 |
| ·逐步加压中绝缘子放电的紫外图像特征 | 第96-98页 |
| ·加压过程中的放电现象 | 第96-98页 |
| ·光斑面积随电压的变化特性 | 第98页 |
| ·绝缘状态估计图像参量的定义和计算 | 第98-100页 |
| ·相对光斑直径与相对闪络强度的关系 | 第100-101页 |
| ·基于相对光斑直径的绝缘状态评估和闪络预警 | 第101-102页 |
| ·现场应用 | 第102-103页 |
| ·本章小结 | 第103-104页 |
| 第8章 结论与展望 | 第104-106页 |
| ·结论 | 第104-105页 |
| ·需要进一步研究的问题 | 第105-106页 |
| 参考文献 | 第106-113页 |
| 攻读博士学位期间发表的论文及其它成果 | 第113-115页 |
| 攻读博士学位期间参加的科研工作 | 第115-116页 |
| 致谢 | 第116-117页 |
| 作者简介 | 第117-118页 |
| 详细摘要 | 第118-135页 |