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低功耗高稳定性八管SRAM单元电路设计

摘要第1-6页
Abstract第6-8页
第一章 引论第8-16页
   ·SRAM 在存储器体系结构中的作用第8-11页
     ·SRAM 和 DRAM 的区别和联系第8-10页
     ·分级存储器体系第10-11页
   ·SRAM 系统结构第11-14页
   ·论文结构第14-16页
第二章 传统SRAM 单元电路介绍第16-28页
   ·六管SRAM 存储单元电路的设计和读写操作第17-23页
     ·读操作第18-19页
     ·写操作第19-21页
     ·读写操作仿真第21-23页
   ·四管SRAM 存储单元电路的设计和读写操作第23-28页
第三章 新型SRAM 单元电路设计第28-38页
   ·改进型的七管SRAM 单元电路结构和读写操作第28-33页
   ·新型的八管SRAM 存储单元电路第33-38页
第四章 SRAM 单元性能分析和实验结果第38-68页
   ·SRAM 单元面积第38-40页
   ·读操作速度第40-43页
   ·写操作余量第43-50页
   ·SRAM 单元的静态噪声余量第50-56页
     ·反相器的 VIL, VIH, VOL 和VOH第50-51页
     ·斜率为-1 的点的噪声余量第51页
     ·面积最大的方块的一边作为SNM第51-55页
     ·三种SRAM 单元电路的SNM第55-56页
   ·MOS 晶体管中的漏电流第56-62页
     ·栅漏电流第56-57页
     ·亚阈值漏电流第57页
     ·反向偏置PN 结漏电流第57-58页
     ·SRAM 单元的漏电流第58-62页
   ·动态功耗第62-68页
第五章 结论和未来的工作第68-70页
致谢第70-72页
参考文献第72-75页

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