低功耗高稳定性八管SRAM单元电路设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 引论 | 第8-16页 |
| ·SRAM 在存储器体系结构中的作用 | 第8-11页 |
| ·SRAM 和 DRAM 的区别和联系 | 第8-10页 |
| ·分级存储器体系 | 第10-11页 |
| ·SRAM 系统结构 | 第11-14页 |
| ·论文结构 | 第14-16页 |
| 第二章 传统SRAM 单元电路介绍 | 第16-28页 |
| ·六管SRAM 存储单元电路的设计和读写操作 | 第17-23页 |
| ·读操作 | 第18-19页 |
| ·写操作 | 第19-21页 |
| ·读写操作仿真 | 第21-23页 |
| ·四管SRAM 存储单元电路的设计和读写操作 | 第23-28页 |
| 第三章 新型SRAM 单元电路设计 | 第28-38页 |
| ·改进型的七管SRAM 单元电路结构和读写操作 | 第28-33页 |
| ·新型的八管SRAM 存储单元电路 | 第33-38页 |
| 第四章 SRAM 单元性能分析和实验结果 | 第38-68页 |
| ·SRAM 单元面积 | 第38-40页 |
| ·读操作速度 | 第40-43页 |
| ·写操作余量 | 第43-50页 |
| ·SRAM 单元的静态噪声余量 | 第50-56页 |
| ·反相器的 VIL, VIH, VOL 和VOH | 第50-51页 |
| ·斜率为-1 的点的噪声余量 | 第51页 |
| ·面积最大的方块的一边作为SNM | 第51-55页 |
| ·三种SRAM 单元电路的SNM | 第55-56页 |
| ·MOS 晶体管中的漏电流 | 第56-62页 |
| ·栅漏电流 | 第56-57页 |
| ·亚阈值漏电流 | 第57页 |
| ·反向偏置PN 结漏电流 | 第57-58页 |
| ·SRAM 单元的漏电流 | 第58-62页 |
| ·动态功耗 | 第62-68页 |
| 第五章 结论和未来的工作 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |