大功率半导体分立器件脉冲式测试技术的硬件实现
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题背景 | 第9-11页 |
| ·半导体分立器件产业发展概况 | 第9页 |
| ·半导体分立器件测试产业发展概况 | 第9-11页 |
| ·大功率半导体分立器件脉冲测试的必要性 | 第11页 |
| ·研究设计半导体分立器件测试仪的意义 | 第11-12页 |
| ·课题来源及研究内容 | 第12-14页 |
| ·课题来源 | 第12页 |
| ·论文研究内容 | 第12-14页 |
| 第二章 方案设计及原理分析 | 第14-27页 |
| ·分立器件测试仪总体介绍 | 第14-16页 |
| ·分立器件测试仪功能 | 第14页 |
| ·分立器件测试仪组成结构 | 第14-16页 |
| ·PIB 板的功能及其指标要求 | 第16-17页 |
| ·脉冲测试与直流连续测试的优缺点对比 | 第17-18页 |
| ·PIB 板总体方案介绍 | 第18-22页 |
| ·工作原理分析 | 第22-26页 |
| ·加脉冲电流测脉冲电压模式（PFIMV） | 第22-23页 |
| ·加脉冲电压测脉冲电流模式（PFVMI） | 第23-25页 |
| ·加直流电压测直流电压模式（FVMV） | 第25-26页 |
| ·小结 | 第26-27页 |
| 第三章 硬件电路设计 | 第27-41页 |
| ·脉冲电流与脉冲电压产生电路设计 | 第27-29页 |
| ·脉冲检测电路设计 | 第29-32页 |
| ·脉冲电流检测电路设计 | 第29-31页 |
| ·脉冲电压检测电路设计 | 第31-32页 |
| ·功率放大电路设计 | 第32-35页 |
| ·功率三极管硬件电路设计 | 第32-34页 |
| ·散热器设计 | 第34-35页 |
| ·峰值检测电路设计 | 第35-37页 |
| ·DA 转换电路设计 | 第37-39页 |
| ·脉冲激励源中DA 芯片的电流电压转换电路设计 | 第37-39页 |
| ·直流电压源中DA 芯片的电流电压转换电路设计 | 第39页 |
| ·AD 转化电路设计 | 第39-40页 |
| ·小结 | 第40-41页 |
| 第四章 FPGA 控制电路设计 | 第41-58页 |
| ·FPGA 控制电路的硬件设计 | 第41-44页 |
| ·FPGA 芯片选择 | 第41页 |
| ·FPGA 下载电路设计 | 第41-42页 |
| ·FPGA 复位电路设计 | 第42-44页 |
| ·控制逻辑设计 | 第44-57页 |
| ·I/O 通信的控制逻辑设计 | 第46-47页 |
| ·脉冲控制信号产生的控制逻辑设计 | 第47页 |
| ·DA 芯片的控制逻辑设计 | 第47-51页 |
| ·AD 芯片的控制逻辑设计 | 第51-56页 |
| ·整体控制逻辑设计的静态时序分析 | 第56-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第五章 驱动程序设计 | 第58-69页 |
| ·I/O 接口程序设计 | 第59-60页 |
| ·I/O 写函数的设计 | 第59页 |
| ·I/O 读函数的设计 | 第59-60页 |
| ·驱动程序设计 | 第60-68页 |
| ·驱动函数PFIMV | 第61-65页 |
| ·驱动函数FVMV | 第65-67页 |
| ·驱动函数PFIMV 与FVMV 的异同点 | 第67-68页 |
| ·小结 | 第68-69页 |
| 第六章 单板实验与实际器件测试实验 | 第69-78页 |
| ·PIB 板的单板实验 | 第69-75页 |
| ·脉冲电压调试实验 | 第69-70页 |
| ·误差分析以及校准方法 | 第70-72页 |
| ·脉冲电压的校准 | 第72-73页 |
| ·脉冲电流及直流电压调试实验 | 第73-75页 |
| ·实际器件参数指标的测试实验 | 第75-77页 |
| ·二极管IN4007 饱和导通电压测试实验 | 第75-76页 |
| ·达林顿管MJ11032 电流增益测试实验 | 第76-77页 |
| ·晶体管8050 电流增益测试实验 | 第77页 |
| ·小结 | 第77-78页 |
| 第七章 结论 | 第78-79页 |
| 致谢 | 第79-80页 |
| 参考文献 | 第80-81页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第81-82页 |
