嵌入式软件可测试性研究
| 独创性(或创新性)声明 | 第1页 |
| 关于论文使用授权的说明 | 第2-3页 |
| 摘 要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景及意义 | 第7-8页 |
| ·目前的研究现状 | 第8-9页 |
| ·论文主要研究成果和组织结构 | 第9-11页 |
| 第二章 嵌入式软件可测试性理论基础 | 第11-26页 |
| ·嵌入式系统概述 | 第11-13页 |
| ·嵌入式系统概述 | 第11-12页 |
| ·嵌入式系统特点 | 第12-13页 |
| ·嵌入式软件测试与软件可测试性简介 | 第13-16页 |
| ·嵌入式软件测试简介 | 第13-14页 |
| ·软件的可测试性 | 第14-15页 |
| ·软件可测试性与软件测试、软件验证的关系 | 第15-16页 |
| ·嵌入式软件可测试性检测模型 | 第16-24页 |
| ·可测试性检测基本概念 | 第16-17页 |
| ·软件错误分析 | 第17-19页 |
| ·软件故障/失效模型 | 第19-20页 |
| ·PIE过程检测模型 | 第20-21页 |
| ·静态可检测模型 | 第21-23页 |
| ·可测试性检测模型小结 | 第23-24页 |
| ·软件可测试性与软件可靠性 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 嵌入式软件可测试性技术研究 | 第26-50页 |
| ·现有PIE模型详细分析 | 第26-29页 |
| ·PIE过程分析 | 第26-27页 |
| ·静态可测试性检测算法分析 | 第27-28页 |
| ·分析结论 | 第28-29页 |
| ·SETM可测试性检测模型概述 | 第29-34页 |
| ·SETM简介 | 第29-30页 |
| ·SETM可测试性检测前提条件 | 第30-31页 |
| ·SETM可测试性的基本概念 | 第31-34页 |
| ·可测试性检测模型基本算法分析 | 第34-44页 |
| ·语句内故障传染分析 | 第34-37页 |
| ·语句内故障传播分析 | 第37-44页 |
| ·基本算法分析小结 | 第44页 |
| ·SETM可测试性计算方法 | 第44-49页 |
| ·执行概率计算方法 | 第44-45页 |
| ·传染概率计算方法 | 第45-46页 |
| ·传播概率计算方法 | 第46-48页 |
| ·可测试性计算方法 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 嵌入式软件可测试性检测系统结构设计与实现 | 第50-62页 |
| ·系统功能概述 | 第50页 |
| ·系统概要设计 | 第50-52页 |
| ·系统总体结构 | 第50-52页 |
| ·系统逻辑流程 | 第52页 |
| ·系统核心模块设计与实现 | 第52-58页 |
| ·编译预分析模块 | 第53-55页 |
| ·可测试性检测子过程 | 第55-58页 |
| ·实例分析 | 第58-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 结论与展望 | 第62-64页 |
| ·总结 | 第62页 |
| ·将来的工作 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 读研期间科研成果 | 第68页 |
