多通道薄膜滤光片的设计、制备与测试
摘要 | 第1-3页 |
Abstract | 第3-4页 |
目录 | 第4-6页 |
第一章 绪论 | 第6-15页 |
§1.1 光学薄膜的发展及现状 | 第6-7页 |
§1.2 光学薄膜测量技术的发展与现状 | 第7-9页 |
§1.3 多通道薄膜滤光片的发展和现状 | 第9-12页 |
§1.4 本课题的研究工作 | 第12-13页 |
参考文献 | 第13-15页 |
第二章 薄膜制备工艺研究 | 第15-41页 |
§2.1 引言 | 第15页 |
§2.2 膜层薄膜光学常数的测定 | 第15-21页 |
§2.2.1 数值法 | 第16-18页 |
§2.2.2 包络法 | 第18-20页 |
§2.2.3 最优化方法 | 第20-21页 |
§2.3 薄膜制备的工艺特性参数 | 第21-25页 |
§2.3.1 温度分布特性 | 第21-23页 |
§2.3.2 膜厚的几何分布 | 第23-24页 |
§2.3.3 材料的工艺试验 | 第24-25页 |
§2.4 膜层厚度监控 | 第25-31页 |
§2.4.1 薄膜厚度监控方法简述 | 第25-26页 |
§2.4.2 计算机辅助监控法 | 第26-29页 |
§2.4.3 膜厚监控的设计 | 第29-31页 |
§2.5 膜系监控误差的计算机模拟 | 第31-39页 |
§2.5.1 极值监控法引起的膜厚误差计算 | 第33-34页 |
§2.5.2 定值监控法引起的膜厚误差计算 | 第34-36页 |
§2.5.3 高反膜的膜厚监控误差模拟 | 第36-39页 |
参考文献 | 第39-41页 |
第三章 多通道掩膜滤光片 | 第41-53页 |
§3.1 引言 | 第41页 |
§3.2 掩膜滤光片的设计 | 第41-47页 |
§3.2.1 滤光片基片及掩膜板的设计 | 第42-43页 |
§3.2.2 各通道滤光片的设计 | 第43-47页 |
§3.3 掩膜滤光片的制备 | 第47-48页 |
§3.4 测试结果与分析 | 第48-51页 |
§3.5 小结与改进 | 第51页 |
参考文献 | 第51-53页 |
第四章 薄膜超棱镜 | 第53-87页 |
§4.1 引言 | 第53-54页 |
§4.2 一维多层薄膜结构中的超棱镜效应 | 第54-66页 |
§4.2.1 一维多层薄膜结构的色散关系 | 第54-58页 |
§4.2.2 时间色散与空间色散 | 第58-61页 |
§4.2.3 薄膜超棱镜效应测试装置搭建 | 第61-66页 |
§4.3 周期性薄膜结构的超棱镜效应 | 第66-81页 |
§4.3.1 高反膜系结构的超棱镜效应 | 第67-72页 |
§4.3.2 带金属反射镜的薄膜超棱镜 | 第72-81页 |
§4.4 薄膜法—珀腔的超棱镜效应 | 第81-85页 |
§4.4.1 法—珀腔的群延迟 | 第81-83页 |
§4.4.2 超棱镜效应的测试与分析 | 第83-85页 |
§4.5 本章小结 | 第85-86页 |
参考文献 | 第86-87页 |
第五章 总结与展望 | 第87-89页 |
硕士期间完成的论文与项目 | 第89-90页 |
感谢 | 第90页 |