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600MHz高性能可编程锁相环设计与分析

目录第1-6页
图表目录第6-9页
摘要第9-10页
Abstract第10-12页
第一章 绪论第12-16页
 §1.1 课题研究背景第12-13页
 §1.2 相关研究第13-14页
 §1.3 本文的主要工作第14页
 §1.4 本文的结构第14-16页
第二章 锁相环相关理论第16-24页
 §2.1 最基本的锁相环第16-18页
 §2.2 电荷泵型锁相环第18-20页
 §2.3 电荷泵型锁相环数学推导第20-24页
第三章 锁相环稳定性设计技术研究第24-34页
 §3.1 电荷泵型锁相环的稳定性问题第24-26页
 §3.2 电荷泵型锁相环的非理想效应第26-31页
  §3.2.1 PFD/CP的非理想性第26-30页
  §3.2.2 VCO的非理想性第30页
  §3.2.3 锁相环的抖动第30-31页
  §3.2.4 噪声与串扰第31页
 §3.3 电荷泵型锁相环的低噪声设计第31-34页
第四章 FT-X锁相环设计第34-68页
 §4.1 FT-X锁相环总体结构第34-35页
 §4.2 鉴相器第35-38页
  §4.2.1 FT-X鉴相器时序第35-36页
  §4.2.2 FT-X鉴相器电路结构及工作机制第36-37页
  §4.2.3 FT-X鉴相器模拟第37-38页
 §4.3 压控振荡器第38-46页
  §4.3.1 VCO主要参数第38-39页
  §4.3.2 VCO实现第39-46页
 §4.4 电荷泵第46-54页
  §4.4.1 电荷泵结构第46-47页
  §4.4.2 电流源设计第47-49页
  §4.4.3 参考电压设计第49-51页
  §4.4.4 过冲补偿第51-54页
 §4.5 低通滤波器第54-58页
  §4.5.1 滤波器分类第54-55页
  §4.5.2 FT-X滤波器设计第55-58页
 §4.6 可编程分频器第58-59页
 §4.7 失锁检测电路第59-61页
  §4.7.1 低频检测电路第59-60页
  §4.7.2 高频检测电路第60-61页
 §4.8 层次式模拟验证方法第61-66页
  §4.8.1 压控振荡器的HSPICE模拟第62页
  §4.8.2 鉴相器的Star-Sim模拟第62-63页
  §4.8.3 FT-X的全环路模拟第63-65页
  §4.8.4 FT-X的版图和模拟参数统计第65-66页
 §4.9 FT-X锁相环的投片与测试第66-68页
  §4.9.1 VCO单元投片第66页
  §4.9.2 VCO单元测试与结果分析第66-68页
第五章 结束语第68-69页
 §5.1 本文的工作总结第68页
 §5.2 工作展望第68-69页
感谢第69-70页
参考文献第70-72页
硕士期间发表的论文第72页

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