| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 目 录 | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·课题背景 | 第9-11页 |
| ·半导体器件的发展 | 第9页 |
| ·半导体器件与集成电路的生产工艺流程 | 第9-10页 |
| ·国内外分立器件生产水平比较 | 第10页 |
| ·晶体管的主要测试参数 | 第10-11页 |
| ·分立器件测试设备的国内外发展现状~[4][5][6][7][8][9][10] | 第11-12页 |
| ·课题的研究意义 | 第12-13页 |
| ·企业概况与要求 | 第12页 |
| ·课题研究基础 | 第12-13页 |
| ·CDS58机型存在的问题 | 第13页 |
| ·分立器件测试系统组成与设计方案介绍 | 第13-15页 |
| ·测试系统的组成 | 第13-14页 |
| ·模拟系统总线控制方案简述 | 第14-15页 |
| ·论文的主要任务、内容及意义 | 第15-17页 |
| 第二章 嵌入式系统的介绍比较及其研究 | 第17-26页 |
| ·嵌入式系统概述 | 第17-18页 |
| ·嵌入式系统的开发方式及工具 | 第18-20页 |
| ·嵌入式系统开发环境简介 | 第18页 |
| ·开发工具及平台 | 第18-20页 |
| ·嵌入式操作系统介绍 | 第20-22页 |
| ·嵌入式操作系统的重要性~[20][21] | 第20页 |
| ·商业嵌入式操作系统的产品介绍 | 第20-21页 |
| ·选择嵌入式Linux操作系统 | 第21-22页 |
| ·32位嵌入式微处理器 | 第22-26页 |
| ·主流嵌入式处理器系列简介~[22][23] | 第22页 |
| ·Coldfire5272嵌入式处理器及套件介绍~[25][26] | 第22-23页 |
| ·基于ARM的嵌入式系统开发 | 第23-24页 |
| ·华恒HHCO5272-R1嵌入式开发套件性能简介 | 第24-26页 |
| 第三章 基于可编程逻辑器件的模拟系统总线生成 | 第26-38页 |
| ·可编程逻辑器件的产生及其发展~[28][29] | 第26-27页 |
| ·可编程逻辑器件发展简史 | 第26页 |
| ·硬件描述语言的出现 | 第26-27页 |
| ·可编程逻辑器件的开发工具与流程介绍 | 第27页 |
| ·PLD/FPGA技术与应用 | 第27-30页 |
| ·PLD/FPGA技术及其优势特点 | 第27-28页 |
| ·PLD/FPGA工艺结构类型与特点介绍 | 第28-29页 |
| ·PLD与FPGA的各自特点与应用领域 | 第29-30页 |
| ·CPU板的设计 | 第30-31页 |
| ·利用PLD实现模拟系统总线 | 第31-36页 |
| ·Coldfire5272的总线结构及其时序分析 | 第31-32页 |
| ·CPLD在模拟系统总线关键作用 | 第32-34页 |
| ·Max+PlusII开发工具介绍 | 第34页 |
| ·“桥”功能的实现与模拟系统总线的产生 | 第34-36页 |
| ·模拟系统总线需要解决的问题 | 第36-38页 |
| ·总线冲突 | 第36页 |
| ·信号的延时 | 第36-37页 |
| ·电平匹配与驱动 | 第37页 |
| ·信号反射 | 第37-38页 |
| 第四章 测试主机的高精度AD/DA设计与调试 | 第38-44页 |
| ·主要晶体管测试电路 | 第38-40页 |
| ·测试回路组成 | 第38-39页 |
| ·晶体管测试参数 | 第39页 |
| ·测试精度环节 | 第39-40页 |
| ·AD/DA电路板的设计 | 第40页 |
| ·高精度DA电路的设计 | 第40-42页 |
| ·DAC712数模转换芯片的功能与特点 | 第40-41页 |
| ·数模转换电路的设计 | 第41页 |
| ·数模转换电路的精度调节方法 | 第41-42页 |
| ·高精度AD电路的设计 | 第42-44页 |
| ·ADS7805模数转换芯片的功能与特点 | 第42页 |
| ·数模转换电路的设计 | 第42-43页 |
| ·模数转换电路的调节 | 第43-44页 |
| 第五章 工艺编辑软件以及实时运行 | 第44-55页 |
| ·软件的要求与运行环境 | 第44页 |
| ·计算机语言的发展与技术发展趋势 | 第44-45页 |
| ·主流计算机开发语言的比较 | 第45-47页 |
| ·Microsoft.Net概念与C#语言 | 第45-46页 |
| ·VB编程简介与开发优势 | 第46-47页 |
| ·测试机应用软件模块的开发 | 第47-48页 |
| ·工艺编辑模块介绍 | 第47-48页 |
| ·主机操控模块介绍 | 第48页 |
| ·VB编程中串行通讯的实现 | 第48-49页 |
| ·串行口的设置 | 第48-49页 |
| ·串行口的访问 | 第49页 |
| ·内存的访问 | 第49-51页 |
| ·通讯规约描述 | 第51-52页 |
| ·数据格式 | 第51页 |
| ·帧数据描述 | 第51-52页 |
| ·测试项的扩展方法 | 第52-55页 |
| 第六章 课题结论与项目展望 | 第55-60页 |
| ·晶体管测试系统完成情况及取得的成果 | 第55-56页 |
| ·课题总结 | 第55页 |
| ·模拟系统总线存在问题 | 第55-56页 |
| ·利用CAN总线技术的新思路 | 第56-58页 |
| ·CAN技术简介 | 第56页 |
| ·CANOpen协议 | 第56-57页 |
| ·CAN总线在测试系统中实现与其优势 | 第57-58页 |
| ·利用FPGA实现控制的新思路 | 第58-60页 |
| ·系统中FPGA应用的分析 | 第58页 |
| ·FPGA在测试系统中实现方案简述 | 第58-60页 |
| 致 谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第63-64页 |
| 攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第64页 |
