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利用相移显微干涉术和频闪成像技术研究MEMS离面运动

中文摘要第1-4页
英文摘要第4-7页
第一章 绪论第7-20页
   ·MEMS 发展概况第7-9页
   ·MEMS 测试技术与光学干涉测试技术第9-12页
   ·MEMS 动态测试技术第12-18页
   ·本课题研究的主要目的和内容第18-20页
第二章 相移显微干涉测试技术第20-46页
   ·干涉显微镜第20-23页
   ·相移干涉技术第23-33页
   ·相位展开技术第33-45页
   ·误差分析第45-46页
第三章 融合频闪成像技术的 MEMS 离面运动测试系统第46-63页
   ·结合频闪成像和相移显微干涉测试 MEMS 离面运动的原理第46-49页
   ·MEMS 离面运动测试系统第49-60页
   ·物体运动速度对离面运动测量的影响第60-63页
第四章 实验及其分析第63-81页
   ·信号延时的分析和测量第63-68页
   ·静态离面高度测试第68-73页
   ·MEMS 离面运动测试第73-81页
第五章 总结与展望第81-83页
参考文献第83-89页
攻读硕士学位期间发表的论文及参与的科研项目第89-90页
致谢第90页

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