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热电阻校验仪的研究

第一章 绪论第1-12页
 1.1 课题来源、目的和意义第7-8页
 1.2 重点要解决的问题第8-9页
 1.3 国内外发展现状第9-10页
 1.4 基本原理第10-12页
第二章 模拟电路设计第12-28页
 2.1 电源部分第12-19页
 2.2 信号采集电路第19-24页
 2.3 功能切换电路第24-28页
第三章 单片机硬件系统设计第28-47页
 3.1 A/D转换电路第28-34页
 3.2 单片机系统及扩展第34-42页
 3.3 液晶显示电路第42-47页
第四章 实验数据处理第47-54页
 4.1 电桥采样电路特性分析第47-48页
 4.2 电桥采样电路特性测试第48-54页
第五章 软件设计第54页
4.1 主程序部分第54-56页
4.2 中断服务程序第56-62页
第六章 结论与展望第62-64页
致谢第64-65页
参考文献第65-66页
附录及附图第66-76页

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