摘要 | 第1-7页 |
Abstract | 第7-14页 |
第一章 绪论 | 第14-28页 |
·前言 | 第14-15页 |
·REBCO超导体的晶体结构 | 第15-16页 |
·材料的织构 | 第16-18页 |
·REBCO超导体的织构生成 | 第18-22页 |
·熔融织构 | 第18-19页 |
·形变织构 | 第19-20页 |
·外延诱导织构 | 第20-21页 |
·磁致织构 | 第21-22页 |
·REBCO超导体的织构特征 | 第22-23页 |
·REBCO超导块材的织构 | 第22-23页 |
·REBCO超导带材的织构 | 第23页 |
·REBCO超导体织构的测量 | 第23-26页 |
·X射线衍射法 | 第23-25页 |
·电子背散射衍射法 | 第25-26页 |
·本论文的意义及主要内容 | 第26-28页 |
第二章 EBSD取向测试技术原理 | 第28-44页 |
·前言 | 第28页 |
·EBSD技术发展历史 | 第28-29页 |
·EBSD技术相关基础 | 第29-30页 |
·晶体学基础 | 第29页 |
·晶体取向描述 | 第29-30页 |
·坐标系的转换 | 第29-30页 |
·取向矩阵的欧拉角表示 | 第30页 |
·EBSD系统硬件和SEM | 第30-32页 |
·EBSD测试原理 | 第32-40页 |
·菊池花样的产生和采集 | 第32-34页 |
·菊池花样的识别 | 第34-36页 |
·菊池花样的标定 | 第36-39页 |
·TEM下菊池花样的标定 | 第36-38页 |
·SEM3种坐标系的变换及菊池花样的标定 | 第38-39页 |
·菊池花样的分析 | 第39-40页 |
·EBSD技术的应用 | 第40-41页 |
·本章小结 | 第41-44页 |
第三章 REBCO超导体EBSD测试实验设置 | 第44-86页 |
·前言 | 第44页 |
·SEM和EBSD实验设备 | 第44-45页 |
·EBSD的分辨率 | 第45-56页 |
·样品倾转角度 | 第46-47页 |
·工作距离 | 第47-49页 |
·相机长度 | 第49-51页 |
·加速电压 | 第51-52页 |
·电子束流 | 第52-54页 |
·倾转修正和动态聚焦补偿 | 第54-55页 |
·花样的清晰度 | 第55-56页 |
·EBSD的菊池花样图像处理 | 第56-64页 |
·Binning模式选择 | 第57-58页 |
·背底扣除 | 第58-59页 |
·花样的平均化处理 | 第59-60页 |
·菊池带的标识 | 第60-61页 |
·菊池带的识别数量和识别灵敏度 | 第61-62页 |
·取向校准 | 第62-64页 |
·EBSD的模拟菊池花样 | 第64-72页 |
·模拟菊池花样在取向标定中的应用 | 第64-68页 |
·理论衍射面数的选择对取向标定的影响 | 第68-72页 |
·EBSD自动取向成像技术 | 第72-76页 |
·样品点的定位 | 第72-74页 |
·步长的确定 | 第74-75页 |
·数据的处理 | 第75-76页 |
·REBCO样品的抛光 | 第76-81页 |
·试样的截取 | 第76页 |
·REBCO试样的无水磨光与抛光 | 第76-78页 |
·REBCO试样的水性磨光与抛光 | 第78-81页 |
·REBCO样品的导电性 | 第81-84页 |
·本章小结 | 第84-86页 |
第四章 REBCO超导体的EBSD取向测试 | 第86-116页 |
·前言 | 第86页 |
·REBCO超导体的标定晶相 | 第86-94页 |
·REBCO超导体菊池花样的伪立方对称性及取向 | 第94-104页 |
·REBCO超导体菊池花样的伪立方对称性 | 第94-96页 |
·YBCO超导体c轴取向 | 第96-103页 |
·YBCO超导体a、b轴取向 | 第103-104页 |
·YBCO超导体的EBSD自动取向成像分析 | 第104-112页 |
·样品制备 | 第104页 |
·X射线衍射结果 | 第104-106页 |
·利用四方相结构标定 | 第106-110页 |
·人工标定 | 第106-107页 |
·EBSD自动取向标定 | 第107-110页 |
·利用正交相结构标定 | 第110-112页 |
·人工标定 | 第110页 |
·EBSD自动取向标定 | 第110-112页 |
·本章小结 | 第112-116页 |
第五章 YBCO孪晶的EBSD定量分析 | 第116-126页 |
·前言 | 第116页 |
·YBCO超导体的孪晶 | 第116-118页 |
·YBCO超导体孪晶的EBSD标定 | 第118-121页 |
·YBCO超导体孪晶的EBSD定量分析 | 第121-124页 |
·本章小结 | 第124-126页 |
第六章 EBSD技术在REBCO超导体织构分析上的应用 | 第126-146页 |
·前言 | 第126页 |
·YBCO银基带熔融生长织构厚膜 | 第126-136页 |
·实验方法 | 第126-128页 |
·形貌分析 | 第128-132页 |
·YBCO粉末 | 第128-129页 |
·YBCO厚膜的表面形貌 | 第129-132页 |
·EBSD分析 | 第132-136页 |
·YBCO强磁场熔融织构生长 | 第136-140页 |
·实验方法 | 第136-138页 |
·样品特性 | 第138页 |
·EBSD分析 | 第138-140页 |
·NBCO区熔生长 | 第140-144页 |
·实验方法 | 第140页 |
·表面形貌 | 第140-141页 |
·EBSD分析 | 第141-144页 |
·本章小结 | 第144-146页 |
第七章 结论 | 第146-148页 |
参考文献 | 第148-154页 |
攻读博士学位期间的研究成果和发表的论文 | 第154-156页 |
致谢 | 第156-158页 |
作者简介 | 第158页 |