摘要 | 第1-10页 |
ABSTRACT | 第10-11页 |
第一章 绪论 | 第11-15页 |
·课题的研究背景 | 第11页 |
·强电磁环境 | 第11页 |
·开展电子系统与强电磁环境交互作用研究的意义 | 第11页 |
·国内外研究现状与发展趋势 | 第11-13页 |
·国外研究现状 | 第11-12页 |
·国内研究现状 | 第12-13页 |
·本文的主要工作 | 第13-15页 |
第二章 基于电磁拓扑的电磁环境建模方法 | 第15-29页 |
·引言 | 第15页 |
·电磁拓扑的建模方法 | 第15-20页 |
·电磁拓扑的定性分析 | 第16-19页 |
·电磁拓扑的定量计算 | 第19-20页 |
·电磁拓扑中的图论算法 | 第20-28页 |
·图论基础 | 第20-22页 |
·电磁拓扑屏蔽模型 | 第22-23页 |
·算法描述 | 第23-27页 |
·算法时间复杂度分析 | 第27页 |
·计算实例 | 第27-28页 |
·本章小结 | 第28-29页 |
第三章 场线耦合的传输线理论 | 第29-48页 |
·Taylor模型 | 第29-36页 |
·第一电报方程 | 第30-32页 |
·第二电报方程 | 第32-34页 |
·有限传导率的传输线的电报方程 | 第34-35页 |
·传输线周围存在损耗介质时的修正 | 第35-36页 |
·Taylor模型的微分方程组 | 第36页 |
·Agrawal模型 | 第36-39页 |
·第一电报方程 | 第36-37页 |
·第二电报方程 | 第37-38页 |
·Agrawal模型的微分方程 | 第38-39页 |
·Rachidi模型 | 第39页 |
·Taylor,Agrawal和Rachidi模型的等价性 | 第39-43页 |
·Taylor模型和Agrawal模型的等价性 | 第40-41页 |
·Taylor模型和Rachidi模型的等价性 | 第41-43页 |
·传输线模型的求解与BLT方程 | 第43-47页 |
·传输线模型求解的一般方法 | 第43-44页 |
·Taylor模型的解 | 第44-46页 |
·Agrawal模型的解 | 第46-47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
第四章 印制线电磁场耦合计算 | 第48-63页 |
·印制线的结构 | 第48-51页 |
·平面波激励下双导体模型 | 第51-55页 |
·双导体印制线的电磁场耦合计算 | 第55-59页 |
·正弦平面波入射 | 第55-57页 |
·核电磁脉冲入射 | 第57-59页 |
·入射角对场线耦合的影响 | 第59-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第五章 电子元器件的电磁辐射效应实验 | 第63-73页 |
·实验目的与意义 | 第63-64页 |
·实验环境 | 第64-65页 |
·实验结果及分析 | 第65-72页 |
·重频和脉宽一定时,不同功率密度的辐照效应 | 第65-70页 |
·功率密度和脉宽一定时,不同重频条件下的辐照效应 | 第70页 |
·实验分析 | 第70-72页 |
·本章小结 | 第72-73页 |
结束语 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-79页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第79页 |