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电子系统与强电磁环境交互作用机理分析与耦合参数计算

摘要第1-10页
ABSTRACT第10-11页
第一章 绪论第11-15页
   ·课题的研究背景第11页
     ·强电磁环境第11页
     ·开展电子系统与强电磁环境交互作用研究的意义第11页
   ·国内外研究现状与发展趋势第11-13页
     ·国外研究现状第11-12页
     ·国内研究现状第12-13页
   ·本文的主要工作第13-15页
第二章 基于电磁拓扑的电磁环境建模方法第15-29页
   ·引言第15页
   ·电磁拓扑的建模方法第15-20页
     ·电磁拓扑的定性分析第16-19页
     ·电磁拓扑的定量计算第19-20页
   ·电磁拓扑中的图论算法第20-28页
     ·图论基础第20-22页
     ·电磁拓扑屏蔽模型第22-23页
     ·算法描述第23-27页
     ·算法时间复杂度分析第27页
     ·计算实例第27-28页
   ·本章小结第28-29页
第三章 场线耦合的传输线理论第29-48页
   ·Taylor模型第29-36页
     ·第一电报方程第30-32页
     ·第二电报方程第32-34页
     ·有限传导率的传输线的电报方程第34-35页
     ·传输线周围存在损耗介质时的修正第35-36页
     ·Taylor模型的微分方程组第36页
   ·Agrawal模型第36-39页
     ·第一电报方程第36-37页
     ·第二电报方程第37-38页
     ·Agrawal模型的微分方程第38-39页
   ·Rachidi模型第39页
   ·Taylor,Agrawal和Rachidi模型的等价性第39-43页
     ·Taylor模型和Agrawal模型的等价性第40-41页
     ·Taylor模型和Rachidi模型的等价性第41-43页
   ·传输线模型的求解与BLT方程第43-47页
     ·传输线模型求解的一般方法第43-44页
     ·Taylor模型的解第44-46页
     ·Agrawal模型的解第46-47页
   ·本章小结第47-48页
第四章 印制线电磁场耦合计算第48-63页
   ·印制线的结构第48-51页
   ·平面波激励下双导体模型第51-55页
   ·双导体印制线的电磁场耦合计算第55-59页
     ·正弦平面波入射第55-57页
     ·核电磁脉冲入射第57-59页
   ·入射角对场线耦合的影响第59-62页
   ·本章小结第62-63页
第五章 电子元器件的电磁辐射效应实验第63-73页
   ·实验目的与意义第63-64页
   ·实验环境第64-65页
   ·实验结果及分析第65-72页
     ·重频和脉宽一定时,不同功率密度的辐照效应第65-70页
     ·功率密度和脉宽一定时,不同重频条件下的辐照效应第70页
     ·实验分析第70-72页
   ·本章小结第72-73页
结束语第73-74页
致谢第74-75页
参考文献第75-79页
作者在学期间取得的学术成果第79页

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