摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-13页 |
·课题背景 | 第9-11页 |
·课题来源以及研究的主要内容 | 第11页 |
·论文的组织结构 | 第11-13页 |
第二章 软硬件平台简介 | 第13-25页 |
·硬件开发平台 | 第13-17页 |
·Marvell PXA310处理器介绍 | 第14-15页 |
·NAND Flash芯片 | 第15-16页 |
·NAND Flash硬件连接方案 | 第16-17页 |
·WinCE嵌入式操作系统 | 第17-25页 |
·系统分层模型和模块化组织 | 第17-18页 |
·任务管理 | 第18-19页 |
·内存管理和存储器管理 | 第19-20页 |
·设备管理 | 第20-22页 |
·中断处理 | 第22-23页 |
·实时特性 | 第23-25页 |
第三章 WinCE下驱动开发简介 | 第25-35页 |
·嵌入式BSP分析 | 第25-29页 |
·BSP概念 | 第25页 |
·WinCE系统架构 | 第25-26页 |
·BSP结构及组成 | 第26-27页 |
·配置文件 | 第27-29页 |
·WinCE系统下的BSP开发 | 第29页 |
·WinCE下的设备驱动模型 | 第29-33页 |
·流接口驱动的结构 | 第31-32页 |
·与流接口驱动模块相关的配置文件 | 第32-33页 |
·WinCE系统流接口驱动框架 | 第33页 |
·开发和调试环境 | 第33-35页 |
第四章 WinCE下NAND Flash驱动的实现 | 第35-49页 |
·需求分析 | 第35页 |
·NAND Flash驱动设计与实现 | 第35-49页 |
·简要描述 | 第36-38页 |
·错误校验 | 第38页 |
·读操作 | 第38-39页 |
·写操作 | 第39-40页 |
·擦除操作 | 第40-41页 |
·DMA模式 | 第41页 |
·Interrupt模式 | 第41-42页 |
·坏块管理 | 第42-44页 |
·IPM支持 | 第44-47页 |
·不同应用场景下NAND Flash驱动代码的差别 | 第47-49页 |
第五章 NAND Flash测试集合的设计 | 第49-57页 |
·CETK简介 | 第49页 |
·测试集合设计 | 第49-57页 |
第六章 驱动测试和维护 | 第57-61页 |
·测试概述 | 第57-59页 |
·本驱动测试的具体实施 | 第59-61页 |
第七章 总结 | 第61-63页 |
参考文献 | 第63-67页 |
致谢 | 第67页 |