电噪声分析的高阶统计量应用软件研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·论文结构 | 第8-9页 |
| 第二章 电噪声的高阶统计量分析法 | 第9-19页 |
| ·电噪声分析基础 | 第9-11页 |
| ·电噪声的特点和分类 | 第9-10页 |
| ·电噪声的传统分析过程 | 第10-11页 |
| ·高阶统计量分析法 | 第11-14页 |
| ·高阶统计量简介 | 第11-13页 |
| ·高阶谱分析与功率谱分析的关系 | 第13-14页 |
| ·电噪声的高阶统计量分析的意义 | 第14-19页 |
| ·高阶统计量与信号的非常规特性 | 第14-15页 |
| ·电噪声的非常规特性 | 第15-16页 |
| ·传统电噪声分析方法的不足 | 第16-19页 |
| 第三章 高阶统计量分析应用软件 | 第19-37页 |
| ·应用软件的结构 | 第19-20页 |
| ·基本高阶统计量的估计和实现 | 第20-23页 |
| ·时域高阶统计量 | 第20-21页 |
| ·频域高阶统计量 | 第21-23页 |
| ·信号非高斯非线性的检测与实现 | 第23-27页 |
| ·Hinich检测算法的原理 | 第23-24页 |
| ·软件的模拟验证 | 第24-27页 |
| ·非线性耦合信号的检测与实现 | 第27-29页 |
| ·基于参数化双谱的检测算法的原理 | 第27-28页 |
| ·软件的模拟验证 | 第28-29页 |
| ·信号非平稳性的检测与实现 | 第29-33页 |
| ·Wigner高阶谱 | 第29-31页 |
| ·基于Wigner双谱的检测算法的原理 | 第31页 |
| ·软件的模拟验证 | 第31-33页 |
| ·应用软件的图形界面 | 第33-37页 |
| 第四章 高阶统计量应用软件的电噪声分析 | 第37-49页 |
| ·对模拟散粒噪声的分析 | 第37-39页 |
| ·对模拟二次相位耦合信号的分析 | 第39-42页 |
| ·对Al互联电迁移噪声的分析 | 第42-44页 |
| ·对MOSFET辐照噪声的分析 | 第44-47页 |
| ·高阶电噪声分类法 | 第47-49页 |
| 第五章 结束语 | 第49-51页 |
| 致谢 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-55页 |
| 在读期间的研究成果 | 第55-56页 |
